[发明专利]低压供电系统中有害电弧的探测装置和方法

权利要求书

1.一种低压供电系统有害电弧的探测装置，其特征在于，其包括：

安装在所述低压供电系统内部的导线接点、端子排和接线盒位置的对电弧波长敏感的光传感器和非接触式温度传感器，以及

具有判断、显示和报警功能的微处理器且所述微处理器存储有多种正常电弧电压波形，所述光传感器和非接触式温度传感器均与所述所述微处理器通信连接。

2.如权利要求1所述的低压供电系统有害电弧的探测装置，其特征在于：所述光传感器对398-457nm波长的电弧弧光敏感。

3.如权利要求2所述的低压供电系统有害电弧的探测装置，其特征在于：所述光传感器和非接触式温度传感器均带有与其位置相对应的地址编码。

4.如权利要求1-3任一项所述的低压供电系统有害电弧的探测装置，其特征在于：所述非接触式温度传感器探测的温度范围为0-100℃，在温度为50℃时，其误差为±1℃；室温为0℃-50℃时，在基本密闭的1000cm³ 体积内可以探测20℃-50℃温升。

5.如权利要求1-3任一项所述的低压供电系统有害电弧的探测装置，其特征在于，所述正常电弧包括：电刷电动机工作时的电弧、开关启闭时的电弧、电源插头插接时的电弧以及白炽灯旋入灯座时的电弧。

6.一种低压供电系统有害电弧的探测方法，其特征在于，包括以下步骤：

在低压供电系统内部的导线接点、端子排和接线盒位置安装对电弧波长敏感的光传感器和非接触式温度传感器；

提供与所述光传感器和非接触式温度传感器通信连接的微处理器，所述微处理器存储有多种正常电弧电压波形并具有判断、显示和报警功能；

设置与所述导线接点、端子排和接线盒位置的所述光传感器和非接触式温感传感器的位置相对应的地址编码；

利用光传感器测量所述位置的弧光光谱和测量导线中的电压或电流变化，并利用非接触式温度传感器已经预先进行地址编码的各个导线接点、端子排和接线盒位置的温度进行监测；以及

当发现某一地址编码的位置的温度比周围温度平均升高20℃ 或以上且同时具备电压或电流变化条件表明产生了弧光信号时，把所述位置的电弧电压波形的参数发送到微处理器中，与所述数据库中存储的各种正常电弧电压波形数据进行比较，经判断确定为有害电弧以后，发出报警信息，同时显示有害电弧发生点的地址编码。

7.如权利要求6所述的低压供电系统有害电弧的探测方法，其特征在于，所述正常电弧包括：电刷电动机工作时的电弧、开关启闭时的电弧、电源插头插接时的电弧以及白炽灯旋入灯座时的电弧。

8.如权利要求7所述的低压供电系统有害电弧的探测方法，其特征在于：所述非接触式温度传感器探测的温度范围为0-100℃，在温度为50℃时，其误差为±1℃；室温为0℃-50℃时，在基本密闭的1000cm³ 体积内可以探测20℃-50℃温升。

9.如权利要求6-8任一项所述的低压供电系统有害电弧的探测方法，其特征在于：所述光传感器对398-457nm波长的电弧弧光敏感。