[发明专利]磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置

说明书

技术领域

本发明涉及以硬盘驱动器为代表的磁记录介质的检查方法，尤其涉及适用于认证检查的检查方法和利用该检查方法的磁记录介质的制造方法。进一步，本发明还涉及利用该检查方法来控制磁记录再现装置的磁头的移动的方法、及控制磁头的移动的磁记录再现装置。 

背景技术

以硬盘驱动器为代表的磁记录介质装置正被广泛用作计算机等信息处理装置的外部记录装置。近年来，也被用作运动图像的录像装置等。 

硬盘驱动器通常包括：(i)轴，其使中央有开口部的圆盘状(环形形状)的磁盘记录介质一片单独地、或者层叠多片磁盘记录介质而以相同轴为中心地同步旋转；(ii)马达，其经由轴承与该轴接合，使磁记录介质旋转；(iii)磁头，其在磁记录介质的两面用于记录和/或再现；(iv)安装该磁头的多个支撑臂；(v)磁头悬臂组件(head stack assembly)，其使上述多个支撑臂同步可动，且使磁头移动到磁记录介质上的任意位置。此外，用于磁记录再现的磁头通常是浮起型磁头，在磁记录介质上具有一定的浮起量而进行移动。 

一般，在搭载于硬盘驱动器的磁记录介质中，在半径方向形成有多个磁道，进一步，在磁道的延伸方向上形成有多个被称为扇区的记录区域。通常，磁记录介质中的信息读写以磁道和扇区为单位来进行。 

一般，磁记录介质通过下面的工序来制造。即，在由铝合金和/或玻璃基板等形成的基板表面，使用溅射法等，依次形成基底层、磁性层、保护 层、润滑层等，由此来制作磁记录介质。然后，对得到的磁记录介质依次进行滑行检查和认证检查。 

所谓滑行检查是检测磁记录介质的表面有无突起的检查。即，当使用磁头对磁记录介质进行记录再现时，当在磁记录介质的表面存在比磁头的浮起量(介质与磁头之间的间隙)高的突起时，则磁头会碰到突起，将损伤磁头，会在磁记录介质产生缺陷。在滑行检查中检查有无这种高的突起(例如，参见专利文献1)。 

对通过(pass)了滑行检查的磁记录介质实施认证检查。所谓认证检查是指与通常的硬盘驱动器的记录再现同样地，在用磁头对磁记录介质记录了预定的信号之后，再现该信号，根据得到的再现信号，检查是否正常地记录于磁记录介质，由此确认磁记录介质的电特性和/或有无缺陷等的介质的质量(例如，参见专利文献2)。 

作为认证检查提出了一种检测方法，该检测方法利用来自具有热敏元件的检查头的起因于热粗糙(thermal asperity)的信号(例如，参见专利文献3)。 

通过(pass)了认证检查的磁记录介质使用被称为伺服记录器的装置写入伺服信息，然后被内置在硬盘驱动器中。作为硬盘驱动器中使用的磁头，提出了磁阻效应型磁头(MR头)。并且，伴随着磁记录介质的高密度化，MR头从磁记录介质的浮起量变小。 

现有技术文献 

专利文献1：日本特开平11-260014号公报 

专利文献2：日本特开2003-257016号公报 

专利文献3：日本特开平10-105908号公报 

如上所述，伴随着磁记录介质的高密度化，MR头从磁记录介质的浮起量变小，所以MR头与作为在磁记录介质上不可避免地存在的缺陷的微小突起物发生冲撞而会促使MR头元件部磨损，容易发生输出下降和/或特性劣化等磁头劣化故障。由于成为这些故障的原因的缺陷的尺寸微小，所以对磁记录介质制造质量进行改善需要很长时间，多会使新机型的市场推 出计划产生延迟。另外，由这种微小突起物引起的故障会使得硬盘驱动器的可靠性降低。 

发明内容

本发明是鉴于上述问题而完成的发明，本发明的目的在于提供一种磁记录介质的检查方法、尤其是适用于认证检查的检查方法、以及使用了该检查方法的磁记录介质的制造方法。根据这些检查方法和制造方法，能得到可靠性显著提高的磁记录介质。 

进一步，其他的目的在于提供一种利用上述检查方法来控制磁记录再现装置的磁头的移动的方法、以及控制磁头的移动的磁记录再现装置。 

本发明的发明人为了解决上述问题而进行了认真努力的研究，结果发现：具有以前的滑行检查、认证检查中难以检测的等级的微小突起物、具体而言具有高度15nm以下且宽度500nm以下的突起物的磁记录介质成为磁记录再现装置的长期使用中的MR头磨损的原因。进一步，对于该微小突起物，发现通过分析从MR头输出的信号能够检测其存在。本发明是基于这种发现而完成的。 

这样，根据本发明能提供下述的磁记录介质的检查方法、磁记录介质的制造方法、磁记录再现装置的磁头的移动控制方法以及磁记录再现装置。