[发明专利]X射线成像装置和测量方法无效
申请号: | 201110209888.6 | 申请日: | 2011-07-26 |
公开(公告)号: | CN102342840A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 土谷佳司 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 杜娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 成像 装置 测量方法 | ||
1.一种获得X射线图像的X射线成像装置,该装置包括:
成像单元,包括多个检测元件,所述多个检测元件适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线产生装置产生的X射线转换成图像信号;和
获得单元,适于基于从所述成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与所述操作开始定时之间的差值。
2.根据权利要求1的装置,还包括产生单元,该产生单元适于通过顺序操作多个检测元件以便以恒定的速度扫描并且将从每个检测元件读取的图像信号转换成像素值来产生图像,
其中,所述获得单元通过分析产生的图像来获得与从X射线产生装置输出X射线相关联的操作相对于向X射线产生装置输入操作信号的定时的延迟时间作为所述差值。
3.根据权利要求2的装置,其中,所述获得单元基于在图像中存在像素值的变化的区域和不存在像素值的变化的区域之间的边界的位置和扫描的速度来获得所述延迟时间。
4.根据权利要求3的装置,其中,所述获得单元获得以扫描速度扫描所述边界和被操作为在输入操作信号的定时上扫描的检测元件之间的距离所需要的时间作为所述延迟时间。
5.根据权利要求1的装置,其中,所述获得单元获得发出操作指令的瞬时和X射线成像装置实际开始输出X射线的瞬时之间的差值和发出操作指令的瞬时和X射线成像装置实际停止输出X射线的瞬时之间的差值。
6.根据权利要求2的装置,其中,所述获得单元通过基于由所述产生单元产生的图像和当不输出X射线时捕获的图像来分析差分图像,来获得所述延迟时间。
7.根据权利要求1的装置,还包括适于顺序操作多个检测元件以便以恒定的速度扫描并且从相应检测元件读取图像信号的读取单元,
其中,所述读取单元在预定的读取时段中以预定的时间间隔读取图像信号,并且,
当从一次X射线曝光的开始到该X射线曝光的结束的时间间隔不落入读取时段内时,在延长读取时段的情况下读取图像信号。
8.根据权利要求1的装置,还包括适于顺序操作多个检测元件以便以恒定的速度扫描并且从相应检测元件读取图像信号的读取单元,
其中,所述读取单元在预定的读取时段中以预定的时间间隔读取电荷,并且,
当从一次X射线曝光的开始到该X射线曝光的结束的时间间隔不落入读取时段内时,在延长读取时段的情况下读取电荷。
9.根据权利要求1的装置,还包括适于基于获得的差值控制所述成像单元的存储开始定时的控制单元。
10.一种由获得X射线图像的X射线成像装置测量X射线曝光的延迟时间的方法,该方法包括以下的步骤:
使X射线产生装置根据操作信号改变X射线输出状态;
顺序地从适于将X射线转换成图像信号的成像单元读取图像信号;和
通过分析所述图像信号来测量所述X射线产生装置的操作相对于所述操作信号的延迟。
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