[发明专利]一种环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统无效
申请号: | 201110211500.6 | 申请日: | 2011-07-27 |
公开(公告)号: | CN102410500A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 徐燕;万勇建;吴永前 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | F21V14/06 | 分类号: | F21V14/06 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉;顾炜 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半径 厚度 可调 干涉仪 环形 光源 系统 | ||
1.一种环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于包括:激光光源(101)、扩束准直光学系统(102)、可变光阑(104)、二元相位光栅(105)、变焦光学系统(106)和空间滤波器(107);激光光源(101)经过扩束准直系统(102)后变成平行光,再经过可变光阑(104)对光束的直径大小进行调节,以控制垂直入射到二元相位光栅(105)上的光束直径大小;光束经过可变光阑(104)调节直径大小后垂直入射到二元相位光栅(105)上,二元相位光栅(105)后为变焦光学系统(106),在变焦光学系统(106)的后焦面上放置空间滤波器(107)接收环形光源,通过调节变焦系统(106)的焦距f1的大小分别改变环形光源的环厚度和环半径。
2.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述二元相位光栅(105)是等间距二元相位光栅,其刻蚀深度满足2h(n-1)=λ,其中h为相位光栅刻槽深度,n为相位光栅元件的折射率,λ为入射光的波长。
3.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述二元相位光栅(105)安装时的旋转轴须与光学系统的光轴重合;旋转轴的中心位于光栅栅节的几何中心。
4.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述的光源采用激光光源。
5.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述变焦光学系统(106)可以是固定变焦和连续变焦两种模式。
6.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述空间滤波器(107)由涂有不透光膜的环带玻璃平板构成。
7.根据权利要求1所述的环半径和环厚度可调的干涉仪环形光源系统,其特征在于:所述空间滤波器(107)位于变焦光学系统(106)和后面准直透镜(108)的共同焦面上。
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