[发明专利]异频测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201110212251.2 申请日: 2011-07-27
公开(公告)号: CN102905303A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 刘扬;黄亚达 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04W24/08 分类号: H04W24/08;H04W36/30
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;梁丽超
地址: 518057 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种异频测量方法,其特征在于,包括:

干扰协调小区中的用户设备根据控制网元的指令测量待异频测量小区;

其中,测量时隙和干扰所述待异频测量小区的干扰源小区的近似空白子帧在时间上存在重合,所述用户设备使用所述重合的时间测量所述待异频测量小区。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量时隙和所述近似空白子帧在时间上完全重合。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测量时隙为所述近似空白子帧的一个子集。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述近似空白子帧为所述测量时隙的一个子集。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测量时隙和所述近似空白子帧在时间上部分重合。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下方式使所述测量时隙和所述近似空白子帧在时间上存在重合:在初始配置时,配置所述测量时隙和所述近似空白子帧在时间上重合。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下方式使所述测量时隙和所述近似空白子帧在时间上存在重合:在初始配置之后,动态调整所述测量时隙和/或所述近似空白子帧的配置,其中,所述测量时隙和所述近似空白子帧在调整后的重合度大于调整前的重合度。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述动态调整所述测量时隙和/或所述近似空白子帧的配置包括以下至少之一:

增加所述测量时隙和/或所述近似空白子帧的个数;

调整所述测量时隙和/或所述近似空白子帧的在各自周期内的时间起点偏差大小。

9.一种异频测量方法,其特征在于,包括:

干扰协调小区中的用户设备根据控制网元的指令测量待异频测量小区;

其中,所述用户设备使用测量时隙中和所述待异频测量小区的近似空白子帧错开的时间测量所述待异频测量小区。

10.一种异频测量装置,其特征在于,包括:

接收模块,用于接收控制网元的指令;

测量模块,用于根据控制网元的指令测量待异频测量小区,其中,测量时隙和干扰所述待异频测量小区的干扰源小区的近似空白子帧在时间上存在重合,所述测量模块使用所述重合的时间测量所述待异频测量小区。

11.一种异频测量装置,其特征在于,包括:

接收模块,用于接收控制网元的指令;

测量模块,用于根据控制网元的指令测量待异频测量小区,其中,所述测量模块使用测量时隙中和所述待异频测量小区的近似空白子帧错开的时间测量所述待异频测量小区。

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