[发明专利]一种用于光学元件干涉检验的夹具无效

专利信息
申请号: 201110212371.2 申请日: 2011-07-27
公开(公告)号: CN102288386A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 马占龙;王君林;刘健;王绍治;张玲花 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光学 元件 干涉 检验 夹具
【权利要求书】:

1.一种用于光学元件干涉检验的夹具,其特征在于,该夹具包括弹性垫片(2)、圆筒形的夹持座(3)和多个紧固螺钉(4),所述夹持座(3)的上部具有与待检测的光学元件(1)接触面形状相同的支撑面(34),该支撑面(34)通过弹性垫片(2)支撑光学元件(1)的接触面;所述夹持座(3)的上部具有与光学元件(1)的外径相匹配或大于光学元件(1)外径的内圆周面,夹持座(3)的上部设有多个矩形凹槽(32);所述多个紧固螺钉(4)均匀设置在夹持座(3)上部的圆周上,夹持座(3)上部设有一个三角形凹槽(31)。

2.如权利要求1所述的一种用于光学元件干涉检验的夹具,其特征在于,所述夹持座(3)的下部外圆周面直径小于上部外圆周面直径。

3.如权利要求1所述的一种用于光学元件干涉检验的夹具,其特征在于,所述夹持座(3)的下部外圆周面上均匀设置有三个凹槽(33)。

4.如权利要求3所述的一种用于光学元件干涉检验的夹具,其特征在于,所述凹槽(33)的形状为半圆柱型或三角形。

5.如权利要求1所述的一种用于光学元件干涉检验的夹具,其特征在于,所述光学元件(1)为凸透镜或平面透镜或凹透镜。

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