[发明专利]最小输出压降的二分步扫描测试方法有效
| 申请号： | 201110213818.8 | 申请日： | 2011-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN102313866A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 何锦文;罗径华 | 申请（专利权）人： | 杰群电子科技（东莞）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 雷利平 |
| 地址： | 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 最小 输出 分步 扫描 测试 方法 | ||
1.最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于，包括有以下步骤：
步骤一，以第一步长在半导体产品参数范围内进行初步扫描，寻找状态触发点的输出电压A；其中，所述状态触发点的输出电压A为半导体产品实际输出电压的98％；
步骤二，将半导体产品参数范围锁定在以Ａ±（N*第一步长）的小区间内；其中，N为测试安全系数；
步骤三，以第二步长在所述步骤二中锁定的小区间内，依次开始扫描，获得所需的半导体产品的最小输出压降，完成扫描。
2.根据权利要求1所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述步骤三进一步包括，从Ａ-（N*第一步长）开始由低到高依次开始扫描。
3.根据权利要求1所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述步骤三进一步包括，从Ａ+（N*第一步长）开始由高到低依次开始扫描。
4.根据权利要求1所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述步骤一中的第一步长为设定的半导体产品输出电压精度的5倍。
5.根据权利要求1所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述步骤三中的第二步长为设定的半导体产品输出电压精度的1/2。
6.根据权利要求4或5所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述设定的半导体产品输出电压精度为2mv。
7.根据权利要求6所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述第一步长为10mv，所述第二步长为1mv。
8.根据权利要求4或5所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述设定的半导体产品输出电压精度为1mv。
9.根据权利要求8所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：所述第一步长为5mv，所述第二步长为0.5mv。
10.根据权利要求1所述的最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于：N为2。
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