[发明专利]基于结构光测量的方法

权利要求书

1.一种用于确定从视频检验装置(100)的探测器(102)到对象(206)的距离的、基于结构光测量的方法，其中所述视频检验装置(100)具有第一光发射器(211)和第二光发射器(212)，用于穿过具有至少一个阴影形成元件(289、290、291)的开口(292)将光发射到所述对象(206)上，在所述光发射器(211、212)被激活时在所述对象(206)上形成多个阴影，所述方法包括步骤：

在所述第一光发射器(211)激活而所述第二光发射器(212)停用时捕获所述对象(206)的至少一个第一发射器图像(400)，其中，所述第一发射器图像(400)具有由所述至少一个阴影形成元件(289、290、291)形成的第一阴影；

在所述第二光发射器(212)激活而所述第一光发射器(211)停用时捕获所述对象(206)的至少一个第二发射器图像(500)，其中，所述第二发射器图像(500)具有由所述至少一个阴影形成元件(289、290、291)形成的第二阴影；

确定所述至少一个第一发射器图像(400)中的像素的第一多个亮度值；

确定所述至少一个第二发射器图像(500)中的像素的第二多个亮度值；

确定所述至少一个第一发射器图像(400)中的像素的所述第一多个亮度值与所述至少一个第二发射器图像(500)中的像素的所述第二多个亮度值的明度比；以及

使用所述明度比来确定对象距离。

2.如权利要求1所述的方法，其中，使用所述明度比来确定所述对象距离的所述步骤还包括：识别其中发生与所述第一阴影对应的至少一个明度比极值的、所述至少一个第一发射器图像(400)中的至少一个明度比极值像素，并且利用所述至少一个明度比极值像素的坐标来确定所述对象距离。

3.如权利要求2所述的方法，其中，所述至少一个明度比极值是明度比峰(721、722、731、732、741、742、1021、1022、1031、1041、1042)，并且所述至少一个明度比极值像素是明度比峰像素(802)。

4.如权利要求2所述的方法，其中，所述至少一个明度比极值是明度比谷(751、752、761、762)，并且所述至少一个明度比极值像素是明度比谷像素。

5.如权利要求2所述的方法，还包括步骤：

确定所述至少一个第二发射器图像(500)中的像素的所述第二多个亮度值与所述至少一个第一发射器图像(400)中的像素的所述第一多个亮度值的明度比；

识别其中发生与所述第二阴影对应的明度比极值的、所述至少一个第二发射器图像(500)中的明度比极值像素；以及

识别并且确定所述明度比极值像素的至少一个的对象距离。

6.如权利要求1所述的方法，还包括：在一般观察光源(128、228)激活而所述第一光发射器(211)和所述第二光发射器(212)停用时捕获所述对象(206)的至少一个一般观察图像(300)，其中所述一般观察图像(300)没有由所述至少一个阴影形成元件(289、290、291)形成的所述多个阴影的任何一个，并且其中，所述一般观察图像(300)在利用所述对象距离来执行测量时显示。

7.如权利要求1所述的方法，其中，基于多个第一发射器图像(400)的平均，来执行确定所述至少一个第一发射器图像(400)中的像素的第一多个亮度值的所述步骤。

8.如权利要求1所述的方法，其中，基于多个第二发射器图像(500)的平均，来执行确定所述至少一个第二发射器图像(500)中的像素的第二多个亮度值的所述步骤。

9.如权利要求1所述的方法，其中，所述至少一个第一发射器图像(400)中的像素的所述第一多个亮度值包括：所述至少一个第一发射器图像(400)中的一行像素的亮度值。