[发明专利]可控功率倒装阵列LED芯片及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201110214740.1 申请日: 2011-07-29
公开(公告)号: CN102244087A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 邓朝勇;杨利忠;李绪诚;张荣芬;许铖 申请(专利权)人: 贵州大学
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 吴无惧
地址: 550025 贵州*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 可控 功率 倒装 阵列 led 芯片 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:阵列LED芯片由多个阵列单元构成阵列,其中所有的阵列单元每一行的p电极层(10)连接,每一列的n电极层(5)连接;所述每个阵列单元的结构是蓝宝石衬底(2)上方依次覆盖n型缓冲层(3)、n型半导体层(6)、有源层(7)、p型半导体层(8)、透明电极层(9)、p电极层(10);所有的n电极层(5)和p电极层(10)由绝缘层(4)包覆;其中每一行的p电极层(10)通过p电极层(10)窗口上方的p电极连接金属层(11)连接;在p电极连接金属层(11)表面还有钝化层(12)。

2.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:粗糙化表面(1)为蓝宝石衬底(2)通过表面粗糙化处理形成的LED芯片出光面。

3.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:n型缓冲层(3)、n型半导体层(6)和p型半导体层(8)由GaN、GaAs或AlGaN半导体材料构成;其中n型层掺入的杂质是Si材料,p型层掺入的杂质是Mg材料。

4.根根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:有源层(7)是单层的InGaN,或者是多层的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层。

5.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:LED芯片由彼此相互独立的阵列单元构成阵列,每一列阵列单元的n电极层(5)连接;n电极层(5)的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属。

6.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于: p电极层(10)采用Ag或Al,并且完全覆盖每一个阵列单元的透明电极层(9)。

7.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于: p电极连接金属层(11)的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属。

8.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:绝缘层(4)和钝化层(9)由SiOx、SiNx或SiOxNy绝缘材料构成。

9.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:透明电极层(9)采用金属薄膜Ni/Au或氧化铟锡制作。

10.一种可控功率倒装阵列LED芯片的制造方法,其特征在于,它包括以下制造步骤:

步骤一,在蓝宝石衬底生长低掺杂的n型缓冲层(3),再生长高掺杂的n型半导体层(6);

步骤二,生长有源层(7),生长为单层的InGaN,或者交替生长为多个周期的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;

步骤三,在步骤二的基础上生长p型半导体层(8);

步骤四,沉积透明电极层(9)和p电极层(10);

步骤五,在步骤四的基础上进行光刻和刻蚀,露出n型缓冲层(3)和芯片的隔离槽,为n电极的沉积做准备;

步骤六,沉积金属层,并进行光刻和刻蚀,形成每一行都连接到一起的n电极层(5);

步骤七,沉积绝缘层(4),并进行光刻和刻蚀,露出p电极层(10)窗口,为沉积p电极层(10)窗口上方的p电极连接金属层(11)做准备;同时在芯片边沿露出n电极pad;

步骤八,沉积金属包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属,并进行光刻和刻蚀,形成每一列阵列单元都连接在一起的p电极连接金属层(11)和n电极外接pad;

步骤九,沉积钝化层(12),并进行光刻和刻蚀,露出p电极pad和n电极pad;

步骤十,对蓝宝石衬底(2)进行减薄,并对蓝宝石的出光面进行有组织的粗糙化处理,形成粗糙化表面(1)。

11.根据权利要求10所述的可控功率倒装阵列LED芯片的制造方法,其特征在于:上述制造步骤中,步骤一到步骤三可以交换沉积顺序,即先在衬底上生长p型半导体层(8)和有源层(7),最后在有源层顶部生长n型半导体层(6)。

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