[发明专利]可控功率倒装阵列LED芯片及其制造方法无效
申请号: | 201110214740.1 | 申请日: | 2011-07-29 |
公开(公告)号: | CN102244087A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 邓朝勇;杨利忠;李绪诚;张荣芬;许铖 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/00 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 吴无惧 |
地址: | 550025 贵州*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可控 功率 倒装 阵列 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一种可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:阵列LED芯片由多个阵列单元构成阵列,其中所有的阵列单元每一行的p电极层(10)连接,每一列的n电极层(5)连接;所述每个阵列单元的结构是蓝宝石衬底(2)上方依次覆盖n型缓冲层(3)、n型半导体层(6)、有源层(7)、p型半导体层(8)、透明电极层(9)、p电极层(10);所有的n电极层(5)和p电极层(10)由绝缘层(4)包覆;其中每一行的p电极层(10)通过p电极层(10)窗口上方的p电极连接金属层(11)连接;在p电极连接金属层(11)表面还有钝化层(12)。
2.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:粗糙化表面(1)为蓝宝石衬底(2)通过表面粗糙化处理形成的LED芯片出光面。
3.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:n型缓冲层(3)、n型半导体层(6)和p型半导体层(8)由GaN、GaAs或AlGaN半导体材料构成;其中n型层掺入的杂质是Si材料,p型层掺入的杂质是Mg材料。
4.根根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:有源层(7)是单层的InGaN,或者是多层的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层。
5.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:LED芯片由彼此相互独立的阵列单元构成阵列,每一列阵列单元的n电极层(5)连接;n电极层(5)的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属。
6.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于: p电极层(10)采用Ag或Al,并且完全覆盖每一个阵列单元的透明电极层(9)。
7.根据权利要求1、2或3所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于: p电极连接金属层(11)的材料包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属。
8.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:绝缘层(4)和钝化层(9)由SiOx、SiNx或SiOxNy绝缘材料构成。
9.根据权利要求1所述的可控功率倒装阵列LED芯片,其特征在于:透明电极层(9)采用金属薄膜Ni/Au或氧化铟锡制作。
10.一种可控功率倒装阵列LED芯片的制造方法,其特征在于,它包括以下制造步骤:
步骤一,在蓝宝石衬底生长低掺杂的n型缓冲层(3),再生长高掺杂的n型半导体层(6);
步骤二,生长有源层(7),生长为单层的InGaN,或者交替生长为多个周期的InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;
步骤三,在步骤二的基础上生长p型半导体层(8);
步骤四,沉积透明电极层(9)和p电极层(10);
步骤五,在步骤四的基础上进行光刻和刻蚀,露出n型缓冲层(3)和芯片的隔离槽,为n电极的沉积做准备;
步骤六,沉积金属层,并进行光刻和刻蚀,形成每一行都连接到一起的n电极层(5);
步骤七,沉积绝缘层(4),并进行光刻和刻蚀,露出p电极层(10)窗口,为沉积p电极层(10)窗口上方的p电极连接金属层(11)做准备;同时在芯片边沿露出n电极pad;
步骤八,沉积金属包括Cu、Ti、Al、Ni或Au金属,采用其中的单一金属或组合金属,并进行光刻和刻蚀,形成每一列阵列单元都连接在一起的p电极连接金属层(11)和n电极外接pad;
步骤九,沉积钝化层(12),并进行光刻和刻蚀,露出p电极pad和n电极pad;
步骤十,对蓝宝石衬底(2)进行减薄,并对蓝宝石的出光面进行有组织的粗糙化处理,形成粗糙化表面(1)。
11.根据权利要求10所述的可控功率倒装阵列LED芯片的制造方法,其特征在于:上述制造步骤中,步骤一到步骤三可以交换沉积顺序,即先在衬底上生长p型半导体层(8)和有源层(7),最后在有源层顶部生长n型半导体层(6)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的