[发明专利]一种SOC芯片的验证方法及系统

权利要求书

1.一种SOC芯片的验证方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

加载测试程序；

根据所述测试程序在系统接口函数库中调用相应的系统函数，根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务；

根据所述随机事务，对待测试芯片进行验证。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机测试事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为：

在待测试器件配置列表中，查找与所述待测试器件对应的待测试器件配置；

根据所述待测试器件配置，生成与测试事务对应的类对象；

对所述类对象进行随机；

根据对所述类对象进行随机的结果，生成测试事务。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测试器件配置包括待测试器件的寄存器映像和待测试器件的约束表达式，所述寄存器映像具体包括寄存器的名称、地址、位宽、默认配置值、当前配置值及前一次配置值，所述约束表达式限定待测试器件的随机参数的范围。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机IO操作事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为：

确定随机IO函数中需要随机化的随机参数；

通过IO列表，按时间先后顺序产生所述随机参数的随机值；

根据所述随机参数的随机值，生成随机IO操作事务。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当随机事务为随机序列操作事务时，所述根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务的步骤具体为：

确定测试程序需要的随机数或者随机序列的参数；

根据随机序列表及所述参数，计算测试程序需要的随机数或者随机序列；

将所述计算出的随机数或者随机序列返回给测试程序，并保存在随机序列表中。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试程序包括测试主程序和测试中断服务程序；

当待测试器件没有中断产生时，执行测试主程序；

当待测试器件发出中断请求时，执行中断服务程序。

7.一种SOC芯片的验证系统，其特征在于，所述系统包括：

加载器，用于加载测试程序；

随机事务产生器，用于根据所述加载器加载的测试程序在系统接口函数库中调用相应的系统函数，根据所述系统函数，及所述系统函数对应的维护列表，生成随机事务；

验证单元，用于根据所述随机事务产生器产生的随机事务，对待测试芯片进行验证。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，当随机事务为随机测试事务时，所述随机事务产生器包括：

器件查找单元，用于在待测试器件配置列表中，查找与所述待测试器件对应的待测试器件配置；

类对象生成单元，根据所述器件查找单元查找的待测试器件配置，生成与测试事务对应的类对象；

类对象随机单元，用于对所述类对象生成单元生成的类对象进行随机；

测试事务生成单元，用于根据所述类对象随机单元对类对象进行随机的结果，生成测试事务。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述待测试器件配置包括待测试器件的寄存器映像和待测试器件的约束表达式，所述寄存器映像具体包括寄存器的名称、地址、位宽、默认配置值、当前配置值及前一次配置值，所述约束表达式限定待测试器件的随机参数的范围。

10.如权利要求7所述的系统，其特征在于，当随机事务为随机IO操作事务时，所述随机事务产生器包括：

随机参数确定单元，用于确定随机IO函数中需要随机化的随机参数；

随机值生成单元，用于通过IO列表，按时间先后顺序产生所述随机参数确定单元确定随机参数的随机值；

IO操作生成单元，用于根据所述随机值生成单元生成的随机参数的随机值，生成随机IO操作事务。