[发明专利]土壤中有机质的测量方法及装置

说明书

技术领域

 本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种土壤中有机质的测量方法及装置。

背景技术

目前，土壤中有机质含量是衡量土壤肥力高低的重要指标之一，有机质能促使土壤形成结构，以改善物理、化学及生物学过程的条件，提高土壤的吸收性能和缓冲性能，同时有机质本身又含有植物所需要的各种养分，如碳、氮、磷、硫等。因此，要了解土壤的肥力状况，必须进行土壤有机质含量的测定。现有技术中，土壤中有机质测量技术通常是在实验室平台上进行，具体为：在加热条件下，用一定量的氧化剂（重铬酸钾-硫酸溶液）氧化土壤中的有机碳，剩余的氧化剂用还原剂（硫酸亚铁铵或硫酸亚铁）滴定，这样，可从所消耗的氧化剂数量计算出有机碳的含量。由上可知，现有技术中对土壤中有机质进行测量方式需要在实验室中进行，不仅需要加入氧化剂还要加入还原剂，在检测过程中受人为的因素影响较大，导致现有技术中土壤有机质测量的准确性较低。

发明内容

 本发明提供一种土壤中有机质的测量方法及装置，用以解决现有技术中土壤有机质测量的准确性较低的缺陷，实现提高土壤中有机质测量的准确性。

本发明提供一种土壤中有机质的测量方法，包括：

对样品池中的土壤进行检测，以获得土壤中有机质对应的电压值与时间的对应的电压曲线方程；

对电压曲线方程进行去噪处理；

对去噪处理后的电压曲线方程进行拟合，已获得电压拟合曲线方程；

根据电压曲线方程和电压拟合曲线方程，计算得到电压值变化的参数值；

根据参数值和预设的计算公式，计算土壤中的有机质的含量；

其中，预设的计算公式为有机质的含量与参数值之间的线性关系公式，预设的计算公式为：SOM=aX+b，23≤a≤24，-7≤b≤-6，X为参数值，SOM为有机质的含量。

本发明提供的土壤中有机质的测量方法，通过检测样品池中的土壤有机质对应的电压值形成电压曲线方程，然后对电压曲线方程进行去噪和拟合，并计算获得相关的参数；最后将参数值带入预设的计算公式便可以准确可靠的获得土壤中有机质的含量。由于整个检测过程都可以由装置自动完成，不受人为因素影响，所以提高了土壤中有机质的测量方法的可靠性和准确性。

本发明提供一种土壤中有机质的测量装置，包括：

检测模块，用于对样品池中的土壤进行检测，以获得土壤中有机质对应的电压值与时间的对应的电压曲线方程；

去噪模块，用于对电压曲线方程进行去噪处理；

拟合模块，用于对去噪处理后的电压曲线方程进行拟合，已获得电压拟合曲线方程；

第一计算模块，用于根据电压曲线方程和电压拟合曲线方程，计算得到电压值变化的参数值；

第二计算模块，用于根据参数值和预设的计算公式，计算土壤中的有机质的含量；

其中，预设的计算公式为有机质的含量与参数值之间的线性关系公式，预设的计算公式为：SOM=aX+b，23≤a≤24，-7≤b≤-6，X为参数值，SOM为有机质的含量。

本发明提供的土壤中有机质的测量装置，通过检测模块检测样品池中的土壤有机质对应的电压值形成电压曲线方程，然后去噪模块和拟合模块对电压曲线方程进行去噪和拟合，并由第一计算模块计算获得相关的参数；最后第二计算模块将参数值带入预设的计算公式便可以准确可靠的获得土壤中有机质的含量。由于整个检测过程都可以由装置自动完成，不受人为因素影响，所以提高了土壤中有机质的测量装置的可靠性和准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明土壤中有机质的测量方法实施例的流程图；

图2为本发明土壤中有机质的测量装置实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明土壤中有机质的测量方法实施例的流程图。如图1所示，本实施例土壤中有机质的测量方法，包括：