[发明专利]微影过程中临界尺寸的测试标记有效
申请号: | 201110218125.8 | 申请日: | 2011-08-01 |
公开(公告)号: | CN102280438A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | 岳力挽;赵新民;周孟兴;鲍晔;王彩虹 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;G03F7/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 过程 临界 尺寸 测试 标记 | ||
1.一种微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,包括:
第一标记棒、第二标记棒、第三标记棒、第四标记棒,所述第一、第二、第三、第四标记棒依次连接形成一矩形方框,所述第一、第二、第三、第四标记棒用于测试独立线临界尺寸;
形成于所述方框内且依次设置的第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒包括相互垂直的第一边和第二边,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒的第一边与所述第一标记棒平行,所述第二、第四、第六测试棒的第一边包括第一部分和第二部分,所述第一、第三、第五、第七测试棒的第一边与所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第一部分形成密集线测试棒,用于测试密集线或者密集间隙的临界尺寸,所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第二部分形成半密集线测试棒,用于测试半密集线或者半密集间隙的临界尺寸,所述第四测试棒的第一边的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。
2.如权利要求1所述的微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒呈“L”形。
3.如权利要求1所述的微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,所述第二、第四、第六测试棒的第二边包括第一部分和第二部分,所述第一、第三、第五、第七测试棒的第二边与所述第二、第四、第六测试棒的第二边的第一部分形成密集线测试棒,用于测试密集线或者密集间隙的临界尺寸,所述第二、第四、第六测试棒的第二边的第二部分形成半密集线测试棒,用于测试半密集线或者半密集间隙的临界尺寸,所述第四测试棒的第二边的末端邻近所述第三标记棒。
4.如权利要求1所述的微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,所述方框内还包括一矩形标记区、与所述矩形标记区的两相邻边相配合的“L”形标记区,所述矩形标记区和所述“L”形标记区之间形成一间隙,用于测量独立间隙的临界尺寸。
5.如权利要求1所述的微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,所述第一标记棒、第二标记棒、第三标记棒、第四标记棒的长度相等。
6.一种微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,包括:
第一标记棒、第二标记棒、第三标记棒、第四标记棒,所述第一、第二、第三、第四标记棒依次连接形成一矩形方框,所述第一、第二、第三、第四标记棒用于测试独立线临界尺寸;
形成于所述方框内的第一、第二、第三组测试棒,所述第一、第二、第三组测试棒与所述第一标记棒平行,所述第二、第三组测试棒包括第一部分和第二部分,所述第一组测试棒与所述第二、第三组测试棒的第一部分形成密集线测试棒,用于测试密集线或者密集间隙的临界尺寸,所述第二、第三组测试棒的第二部分形成半密集线测试棒,用于测试半密集线或者半密集间隙的临界尺寸,所述第三组测试棒的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。
7.如权利要求6所述的微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,所述方框内还包括一矩形标记区、与所述矩形标记区的两相邻边相配合的“L”形标记区,所述矩形标记区和所述“L”形标记区之间形成一间隙,用于测量独立间隙的临界尺寸。
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