[发明专利]样本处理装置有效

专利信息
申请号: 201110219356.0 申请日: 2011-08-02
公开(公告)号: CN102411059A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 喜多川信宏 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N35/10;G01N15/10
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 刘良勇;李瑞峰
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 样本 处理 装置
【权利要求书】:

1.一种样本处理装置,可以用下部外侧设有凹部的第一种类的第一样本容器和没有该凹部的第二种类的第二样本容器处理样本,该样本处理装置包括:

样本处理部件,对装在样本容器中的样本进行处理;

凹部检测部件,用于检测样本容器的凹部;及

控制部件,控制样本处理部件,当凹部检测部件未检测到凹部时,按第一样本处理条件处理样本,当凹部检测部件检测到凹部时,按不同于第一样本处理条件的第二样本处理条件处理样本。

2.根据权利要求1所述样本处理装置,还包括固定样本容器的固定部件,其中,

所述凹部检测部件有一个接触部件,当固定在固定部件的样本容器底部的外侧没有凹部时,该接触部件接触该样本容器底部的外面。

3.根据权利要求2所述样本处理装置,其特征在于:

所述接触部件可以在固定在固定部件上的样本容器底部的外侧有凹部时所述接触部件所处的第一位置,以及固定在固定部件上的样本容器底部的外侧没有凹部时所述接触部件所处的第二位置之间移动。

4.根据权利要求3所述样本处理装置,其特征在于:

在所述第一位置,接触部件中至少有一部分插入样本容器的凹部内。

5.根据权利要求2~4其中任意一项所述样本处理装置,还包括用于检测所述固定部件有无样本容器的容器检测部件,其中,

当容器检测部件检测出固定部件中有样本容器时,所述控制部件通过所述凹部检测部件检测下部的外侧有凹部的样本容器的该凹部。

6.根据权利要求3所述样本处理装置,其特征在于:

当固定部件中没有样本容器时,所述接触部件位于第一位置。

7.根据权利要求3所述样本处理装置,其特征在于:

所述接触部件可以仅凭借样本容器的重量从第一位置移动到第二位置。

8.根据权利要求1所述样本处理装置,还包括固定样本容器的固定部件,其中,

所述凹部检测部件是光检测部件,以光学方式检测出固定在固定部件上的样本容器的凹部。

9.根据权利要求8所述样本处理装置,其特征在于:

所述光检测部件具有发光部件和受光部件,所述发光部件用于从固定部件下方向固定在固定部件的样本容器底部的外面照射光,所述受光部件用于检测从固定在固定部件的样本容器底部的外面反射的光的量。

10.根据权利要求1所述样本处理装置,其特征在于:

所述样本处理部件有吸样部件,用于吸移装在所述第一样本容器和第二样本容器中的样本,

所述第一样本处理条件中包括以下条件:用所述吸样部件按照第一吸移条件吸移样本,

所述第二样本处理条件中包括以下条件:用所述吸样部件按照不同于上述第一吸移条件的第二吸移条件吸移样本。

11.根据权利要求10所述样本处理装置,其特征在于:

所述吸样部件有用于吸移装在样本容器中的样本的吸管和用于上下移动吸管的驱动部件,

所述第一吸移条件中包括以下条件:用下移到第一高度的吸管吸移样本,

所述第二吸移条件中包括以下条件:用下移到不同于第一高度的第二高度的吸管吸移样本。

12.根据权利要求11所述样本处理装置,其特征在于:

所述第二高度的位置高于所述第一高度,

所述控制部件控制所述吸管和驱动部件,当从凹部检测部件未检测出凹部的样本容器吸移样本时,使吸管下移到所述第一高度并吸移样本,当从所述凹部检测部件检测出凹部的样本容器吸移样本时,让吸管下移到所述第二高度并吸移样本。

13.根据权利要求12所述样本处理装置,包括用于与样本容器的种类相对应地存储有关吸移位的吸移位信息的存储部件,其中,

所述控制部件根据凹部检测部件的检测结果和存储部件存储的吸移位信息下移吸管。

14.根据权利要求13所述样本处理装置,包括用于接受对存入存储部件中的吸移位信息的更改的接受部件,其中:

所述控制部件将接受部件接受的吸移位信息存入存储部件。

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