[发明专利]检测终端外部一次计量CT二次侧接线状态的方法及其电路有效
申请号: | 201110219559.X | 申请日: | 2011-08-02 |
公开(公告)号: | CN102411112A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 刘金龙;黄雄凯;汤可 | 申请(专利权)人: | 长沙威胜信息技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所 43001 | 代理人: | 周咏;林毓俊 |
地址: | 410205 湖南省长沙市岳麓*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 终端 外部 一次 计量 ct 二次 接线 状态 方法 及其 电路 | ||
1.一种检测终端外部一次计量CT二次侧接线状态的方法,其特征是在终端内安装测试CT, 并将测试CT的一次侧与被测CT的二次侧连接,在测试CT的二次侧接上电容与反相器组成自激振荡电路,利用终端内置单片机测量这个自激振荡电路输出波形的频率特征来获得该被测CT二次侧电路的开路或短路或部分短路或正常的状态信息。
2.根据权利要求1所述的用于检测终端外部一次计量CT二次侧接线状态的方法,其特征是包括如下步骤:
(1)将终端内置测试CT一次侧与终端外部一次计量CT二次侧相连,将终端内置的测试CT二次侧与电容、反相器组成自激振荡电路;
(2)连续测量超过一个工频周期时间长度的自激振荡电路输出的每个方波频率;
(3)通过判别这个波形是否含有工频成分,将被测CT二次侧接线分为两种情况:开路或短路,正常用电或部分短路;
(4)通过测量频率区分开路与短路,通过最小频率区分正常用电与部分短路;
(5)测试结果与某种接线理论频率值相符,则输出结果,测得的结果不在理论值范围内,则重新测试。
3.一种如权利要求1或2所述方法采用的电路,其特征在于该电路包括测试CT、自激振荡电路、波形整形电路、单片机电路,其中自激振荡电路包含测试CT的二次侧,波形整形电路的输入端与自激振荡电路连接,输出端与单片机连接,对自激振荡电路的输出波形进行整形后输入单片机,单片机计算特定点的频率,根据频率值与理论值的对应关系得出被测CT二次侧电路的开路或短路或部分短路或正常的状态信息。
4.根据权利要求3所述的电路,其特征在于所述自激振荡电路由测试CT二次侧、两个电容(C1、C2)、反相器(D1)组成。
5.根据权利要求3或4所述的电路,其特征在于所述测试CT的磁芯材料选择高磁导率的磁芯材料,测试CT的二次侧匝数不高于6匝。
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