[发明专利]双栅极线单元面板的测试线路及其色彩显示方法有效
申请号: | 201110220312.X | 申请日: | 2011-08-01 |
公开(公告)号: | CN102855834A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 吕泰福 | 申请(专利权)人: | 瀚宇彩晶股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G5/02;G09G3/36 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 郭鸿禧;刘奕晴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 栅极 单元 面板 测试 线路 及其 色彩 显示 方法 | ||
技术领域
本发明是涉及一种液晶面板的测试结构及显示方法,特别是涉及一种双栅极线单元面板的测试线路及双栅极线单元面板的色彩显示方法。
背景技术
请参照图1,图1是双栅极线单元面板的传统短路棒测试架构的示意图。图1所示的双栅极线单元面板1是含有像素P、晶体管开关Tn、电极E、扫描线gn、数据线Dn、金属线101及102以及测试垫121及122。其中,像素P是以矩阵排列的方式分布在双栅极线单元面板1上,且一个像素P包含三个子像素即红色子像素R、绿色子像素G及蓝色子像素B。子像素的晶体管开关Tn的栅极、源极及漏极是分别耦接扫描线gn、数据线Dn及子像素的电极E,且每一个子像素是通过一条扫描线gn及一条数据线Dn来控制其颜色的明暗程度。
在双栅极线单元面板1的传统短路棒(Shorting bar)测试架构中,是将所有的扫描线gn透过金属线101电性连接,而且所有的数据线Dn是透过金属线102电性连接。测试信号包含扫描信号源111及图像信号源112,且扫描信号源111及图像信号源112是分别透过连接金属线101的测试垫121及连接金属线102的测试垫122输入到双栅极线单元面板1的多条扫描线gn及多条数据线Dn,以进行双栅极线单元面板1的显示测试。
当扫描信号源111使晶体管开关Tn导通时,图像信号源112会影响相关装置的运作,进而使双栅极线单元面板1显示所需的色彩或图案。由于双栅极线单元面板1的色彩显示原理为本领域技术人员所知,并不在此赘述。但简单来说,当子像素的晶体管开关Tn导通时,若图像信号112的电压愈接近参考电压(V-common),则所述子像素的颜色就会愈亮;若图像信号112的电压与参考电压的差值达到一设定值,则所述子像素的颜色就不会显示出来。其中,参考电压是例如5伏特,且若图像信号112的电压为4.9伏特或5.1伏特时,则所述子像素的颜色会显示出来且很亮;若图像信号112的电压为10伏特或0伏特时,则所述子像素的颜色就不会显示出来。
由于双栅极线单元面板1利用短路棒测试架构来进行显示测试时,是将所有的数据线Dn及所有的扫描线gn分别电性连接在一起,然后再分别输入图像信号源112及扫描信号源111。如此,是没有办法单独显示出红色、绿色及蓝色。由于测试时无法单独显示出红色、绿色及蓝色,致使有些缺陷没办法被检视出来。所以,没被检测出的带有缺陷的双栅极线单元面板1就会进行后续制程,直到更精密的成品测试时,这些带有缺陷的双栅极线单元面板1就会被检测出来,然后将其丢弃或回收。如此,等同于浪费了对有缺陷的双栅极线单元面板1在显示测试后所进行的制程成本。
发明内容
有鉴于上述现有技术的问题,所以发明人发明了一种双栅极线单元面板的测试线路及双栅极线单元面板的色彩显示方法。此双栅极线单元面板的测试线路能在显示测试时让双栅极线单元面板显示出单独的红、绿及蓝色。透过双栅极线单元面板的单色显示就可检测出较多缺陷,被检测出有缺陷的双栅极线单元面板即可丢弃或回收,如此可避免浪费后续制程成本在有缺陷的双栅极线单元面板上。
为达到上述目的,本发明的一种双栅极线单元面板的测试线路是将双栅极线单元面板的所有数据线分成三组即第一组数据线、第二组数据线及第三组数据线,且是例如依序以第一组数据线、第二组数据线及第三组数据线的排列方式横向循环排列。再将所有的第一组数据线、第二组数据线及第三组数据线所有的数据线分别电性连接第一测试垫、第二测试垫及第三测试垫,其中第一组数据线是耦接多个第一子像素及多个第二子像素,第二组数据线是耦接多个第三子像素及多个第四子像素,第三组数据线是耦接多个第五子像素及多个第六子像素。
其中,各所述子像素是包含一晶体管开关电性连接一扫描线及一数据线,当所述第一组扫描线被通入一导通信号时,所述第一组扫描线相对应的晶体管开关是被导通,所述第二组扫描线则被通入一截止信号,若所述第一组数据线被通入一显示信号,则所述些第一子像素显示出所述第一颜色。
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