[发明专利]液晶显示器中玻璃基板的目视检查机及检查方法

说明书

【技术领域】

本发明属于液晶显示器生产技术领域，特别是涉及一种液晶显示器中玻璃基板的目视检查机，还涉及一种液晶显示器中玻璃基板的检查方法。

【背景技术】

液晶显示技术的不断发展，对液晶显示器的生产提出了很高的要求。

以薄膜场效应晶体管(Thin Film Transistor，TFT)的显示器为例，随着TFT显示屏幕的尺寸越来越大，大规格的玻璃基板也开始被广泛的应用。

现有技术中的目视检查机，在对玻璃基板进行检查之前，检测者往往是通过目测的方式获取玻璃基板的坐标。

请参阅图1，所述目视检查机包括检查基台100，所述检查基台100包括检查基台主体101，待检查的玻璃基板固定于检查基台主体101上。所述目视检查机还包括两刻度器件102，所述两刻度器件102相互垂直设于检查基台主体101两侧。在将待检查的玻璃基板放置到检查基台主体101上后，检测者通过两侧的刻度器件102读出待检查的玻璃基板上某一点坐标的目测值。

现有的液晶显示器中玻璃基板的检查方式存在以下缺点：

1)、不同检查者有不同的读取结果；

2)、由于待检查玻璃基板的坐标无法精准，使得实际读取的坐标值往往与真实的坐标值之间有极大的误差，最大可达50mm。

3)、由于读取的玻璃基板的坐标资料不准确，很容易产生错误的源信息，而且一旦出现需要进行特殊检查的斜角时，只能利用光折射才能测量出，影响异常问题的解析效率；

4)、由于现有的检查仪器的倍率较大，使得视野减小，一般视野最大约5mm，经常导致无法准确检查玻璃基板上的盲区，请参阅图2，其中，图2为现有技术中目视检查机侧边。图2中的a为目视检查机侧边上的凹陷区，即为盲区。

综上，由于玻璃基板的尺寸、检查距离以及检查斜角等因素，使得在对待检查的玻璃基板进行检查时，难以准确的读取相应的坐标，而且由于存在视野上的盲区，导致检查结果错误。

【发明内容】

本发明的一个目的在于提供一种液晶显示器中玻璃基板的目视检查机，以解决现有技术中由于不能准确的读取相应的坐标，且由于存在盲区，导致检查结果错误的技术问题。

为解决上述问题，本发明构造了一种液晶显示器中玻璃基板的目视检查机，包括检查基台，所述检查基台包括检查基台主体，待检查的玻璃基板固定在所述检查基台主体上，所述目视检查机还包括至少两个滑轨，所述滑轨设置于所述检查基台主体至少相邻的两侧，所述滑轨的长度方向平行于所述检查基台主体的水平面，且相邻的两侧的滑轨的长度方向相互垂直；

所述目视检查机还包括坐标读取器，所述坐标读取器滑动连接所述滑轨，所述坐标读取器用于在所述检查基台主体的水平面上方交互形成一定位点，检测者通过读取所述定位点的坐标获取待检查的玻璃基板相应的坐标。

在本发明的液晶显示器中玻璃基板的目视检查机中，所述滑轨包括第一滑轨和第三滑轨；所述坐标读取器包括第一移动式标尺和第二移动式标尺，

所述第一移动式标尺滑动连接所述第一滑轨，且所述第一移动式标尺的长度方向垂直于所述第一滑轨的长度方向；

所述第二移动式标尺滑动连接所述第三滑轨，且所述第二移动式标尺的长度方向垂直于所述第三滑轨的长度方向。

在本发明的液晶显示器中玻璃基板的目视检查机中，所述滑轨还包括第二滑轨和第四滑轨，

其中，所述第二滑轨的长度方向平行于所述第一滑轨的长度方向，且所述第一滑轨和所述第二滑轨分居所述检查基台主体的相对两侧；所述第一移动式标尺滑动连接所述第一滑轨和第二滑轨；

所述第四滑轨的长度方向平行于所述第三滑轨的长度方向，且所述第四滑轨和所述第三滑轨分居所述检查基台主体的相对两侧；所述第二移动式标尺滑动连接所述第三滑轨和第四滑轨。

在本发明的液晶显示器中玻璃基板的目视检查机中，所述滑轨包括第五滑轨和第六滑轨；所述坐标读取器包括第一发射器，第二发射器，第一刻度尺以及第二刻度尺；

其中，所述第一发射器滑动连接所述第五滑轨，所述第一刻度尺对应所述第一发射器设置，且所述第一刻度尺的长度方向平行于所述第五滑轨的长度方向；

所述第二发射器滑动连接所述第六滑轨，所述第二刻度尺对应所述第二发射器设置，且所述第二刻度尺的长度方向平行于所述第六滑轨的长度方向。

在本发明的液晶显示器中玻璃基板的目视检查机中，所述第一发射器和第二发射器均为激光笔。