[发明专利]一种放射性污染的测量方法及装置

权利要求书

1.一种放射性污染的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1)将检测仪放置在支架上；

2)将被检测物放置在支架下方，与检测仪相隔适当的距离；

3)打开检测仪进行测量。

2.根据权利要求1所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的步骤1)中的支架为可折叠式支架。

3.根据权利要求1或2所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的支架的高度为8～12cm。

4.根据权利要求1所述的一种放射性污染的测量方法，其特征在于，所述的步骤2)中的适当的距离为根据仪器检定报告上的探测距离来放置被检测物的高度。

5.一种实施权利要求1所述的放射性污染的测量方法的装置，其特征在于，该装置包括检测仪和支架，所述的检测仪设置在支架上方。

6.根据权利要求5所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的支架为可折叠式支架。

7.根据权利要求6所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的可折叠式支架包括台面和支脚，支脚与台面可转动式连接。

8.根据权利要求5或6所述的一种放射性污染的测量装置，其特征在于，所述的支架的高度为8～12cm。