[发明专利]一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法有效
申请号: | 201110223281.3 | 申请日: | 2011-08-05 |
公开(公告)号: | CN102354116A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 何益海;米凯;武春晖 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G05B13/04 | 分类号: | G05B13/04 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 质量 过程 统计 控制 事件 间隔 制作方法 | ||
1.一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,如果其过程是可测量的,且其过程观测值是连续、相互独立的并服从正态分布,其特征在于:该制作方法的步骤如下:
步骤1收集历史数据;
步骤2对历史数据进行统计描述,计算其均值与标准差,分析过程是否受控,若过程不受控,则需要查找过程失控原因,对过程进行调整修复,重新进入步骤1;若过程受控,则进入步骤3;
步骤3设计Ω事件间隔控制图参数;
步骤4监测过程Ω事件的发生,记录其发生的时间点,记录连续r个Ω事件发生的时间间隔;
步骤5根据控制上限UCL,控制下限LCL,连续r个Ω事件发生的时间间隔绘制时序的Ω事件间隔控制图。
2.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤1中所述的收集历史数据,是指采集20-70组历史数据。
3.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤2中所述的判断过程是否受控,是指子组大小为1时通常使用单值移动极差控制图即I-MR控制图,否则使用均值极差控制图即X-R控制图,来进行过程是否受控的判断。
4.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤2中所述的计算历史数据均值计算方法,是将历史数据所有数据加和再除以数据的个数;所述的计算历史数据标准差计算方法为,假定历史数据为X1,X2,……,Xn,历史数据均值为标准差为
5.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤3中所述的设计Ω事件间隔控制图参数,是指Ω事件的数值区间设定参数ζ,一个被监测时间间隔里连续发生Ω事件的数目r,控制上限UCL,控制下限LCL。
6.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤4中所述Ω事件,参数r由步骤3确定。
7.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤5中所述控制上限UCL,控制下限LCL由步骤3确定。
8.根据权利要求1所述的一种高质量过程统计控制的Ω事件间隔控制图的制作方法,其特征在于:步骤5中所述连续r个Ω事件发生的时间间隔由步骤4监测而来。
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