[发明专利]化验检测判定设备及方法

权利要求书

1.一种化验检测判定设备，其包括光电检测电路和处理器，以及用于测量化验信号的光学检测装置，光学检测装置中设有检测区和空白区，所述光电检测电路对检测区和空白区的光反射强度信号进行检测，并反馈检测信息给处理器，其特征在于，处理器包括有相连接的时控模块、阈值修改模块和数据比较模块，该时控模块分别与阈值修改模块、光电检测电路连接，该阈值修改模块、光电检测电路同时也与数据比较模块连接，阈值修改模块根据时控模块的信号来修改阈值并传送到数据比较模块，光电检测电路根据时控模块的信号来定时检测所得检测值传送到数据比较模块，数据比较模块将检测数据与对应阈值进行计算与比较得出判定结果。

2.如权利要求1所述的化验检测判定设备，其特征在于，该阈值修改模块包括相连接的开机测试模块、时间检测模块、阈值更新模块、阈值输出模块。

3.如权利要求2所述的化验检测判定设备，其特征在于，该数据比较模块包括相连接的空白值保护模块、测量值输入及保护模块、斜率计算模块、比较及判定模块、结果保存模块，该空白值保护模块、测量值输入及保护模块的数值输入至斜率计算模块，该斜率计算模块的结果输入至比较及判定模块与阈值进行比较，判定结果保存至结果保存模块。

4.如权利要求3所述的化验检测判定设备，其特征在于，其进一步包括显示检测状态或判定结果的显示装置，该显示装置与处理器连接。

5.如权利要求4所述的化验检测判定设备，其特征在于，该显示装置为LCD液晶显示屏。

6.如权利要求3所述的化验检测判定设备，其特征在于，其进一步包括与处理器连接的声音提示装置。

7.一种采用如权利要求1~6任一项所述化验检测判定设备的化验检测判定方法，用于检测特定的化验物的存在和含量，执行所述化验以引起一种反应，该反应导致一个化验信号以时间而变化的方式累积在所述光学检测装置的检测区，光电检测电路向检测区和空白区发射光，并对检测区和空白区的光反射强度信号进行检测，并反馈检测信息给处理器，其特征在于，

处理器预设有随时间变化的阈值X，

处理器根据光电检测电路所反馈的检测区和空白区在加样前以及加样后的光反射强度信号，确定化验信号累积量，计算相应的判定值K；

在所确定的判定值K大于或者等于当时阈值X，或者在时间t满足预设时间值时，所述判定值K没有达到所述阈值X，或者测得信号无法给出判定的时候，表示结果。

8.一种如权利要求7所述的化验检测判定方法，其特征在于，如果在一定时间内，经过反应，所述判定值大于或者等于所设定的阈值，那么马上输出第一结果信号，并结束化验；如果时间t达到设定值后，所述判定值均小于所设定的阈值，则输出第二结果信号并结束化验；若出现不能比较状态，则输出第三种结果，结束化验。

9.一种如权利要求8所述的化验检测判定方法，其特征在于，处理器在所述反应达到平衡之前，确定化验信号累积量。

10.一种如权利要求9所述的化验检测判定方法，其特征在于，该判定值是：由检测区与空白区在加样前扫描读得出数值T0、B0，再与加样N秒后检测区和空白区扫描读得数值T1、B1分别相比，分别得出检测区的比值T1/T0和空白区的比值B1/B0，再用检测区的比值减去空白区的比值，从而得出判定值K=T1/T0-B1/B0。

11.一种如权利要求8所述的化验检测判定方法，其特征在于，所述第一结果是肯定结果，所述第二结果是否定结果，第三结果是无法判断或样品量不足的结果。

12.一种如权利要求8所述的化验检测判定方法，其特征在于，在设定时间t内，如果所述判定值低于设定的阈值，则重复新一轮的检测、计算和比较。