[发明专利]用组合测量确定表面特征的设备和方法

权利要求书

1.一种用于测定被测表面(10)的表面特征的设备(1)，该设备包括至少一个向该被测表面(10)上发射辐射线的第一辐射装置(2)以及至少一个第一辐射探测装置(4)，该第一辐射探测装置接收由该至少一个辐射装置(2)发出的且随后从该被测表面(10)散射开来的至少部分辐射线、并且输出至少一种标识被接收的辐射线的特性的检测信号，该设备还包括用于对该被测表面(10)进行光泽度检测的一第二辐射装置(12)和一第二辐射探测装置(14)，其中，该第二辐射装置(12)以一个预设的入射角度(a)向该被测表面(10)发射辐射线，并且该第二辐射探测装置(14)接收由至少该第二辐射装置(12)辐射出的且随后从该被测表面(10)反射出来的至少部分辐射线，

其特征在于，

该第二辐射装置(12)向该被测表面(10)发射辐射线的该入射角度(a)不大于50°，该入射角度为辐射线的入射方向与该被测表面(10)的一法线方向(M)所成的角度。

2.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，该设备包括用于对该被测表面进行光泽度检测的一第三辐射装置(22)和一第三辐射探测装置(24)，该第三辐射装置(22)以一个预设的第二入射角度(b)向该被测表面(10)发射辐射线，该第三辐射探测装置(24)接收由该第三辐射装置(22)发出的且随后从该被测表面(10)反射出来的至少部分辐射线。

3.如权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，该第二辐射装置(12)向该被测表面(10)发射辐射线的该第二入射角度(b)为至少30°，该第二入射角度为辐射线的入射方向与该被测表面(10)的一法线方向(R)所成的角度。

4.如权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，该设备包括用于对该被测表面进行光泽度检测的一第四辐射装置(22)和一第四辐射探测装置(24)，该第四辐射装置(22)以一个预设的第三入射角度向该被测表面(10)发射辐射线，该第四辐射探测装置(24)接收由该第四辐射装置(22)发出的且随后从该被测表面(10)反射出来的至少部分辐射线。

5.如权利要求4所述的设备(1)，其特征在于，该第三辐射装置(22)向该被测表面(10)发射辐射线的该第三入射角度(b)大于80°，该第三入射角度为辐射线的入射方向与该被测表面(10)的一法线方向(R)所成的角度。

6.如上述权利要求中的至少一项所述的设备，其特征在于，该设备包括一个安装在该第一辐射装置(2)与该第一辐射探测装置(4)之间的光学路径上的光学隔离装置(11)。

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，该第一辐射装置向该设备(1)的一第一壳体部分(8)内发射辐射线，并且该光学隔离装置(11)使该第一壳体部分(8)与一第二壳体部分(28)隔离开来，该第二壳体部分(28)上具有一个开口(9)，该第一辐射探测装置(4)能够通过该开口(9)对该被测表面(10)进行观测。

8.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第一辐射探测装置被设置为偏离一平面(E)，该平面(E)由该第二辐射装置(12)发射辐射线的入射方向(R1)与从该被测表面反射的辐射线的反射方向(R2)所确定。

9.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第一壳体部分(8)呈截球状。

10.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第一壳体部分(8)的一内壁(32)被形成为至少部分地用于反射辐射线。

11.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第二壳体部分(28)的一内壁(34)被形成为至少部分地用于吸收辐射线。

12.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第二壳体部分(28)的一内壁(34)被形成为至少部分地用于反射辐射线。

13.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该设备包括一个用于支撑至少一个探测装置的载体(36)，并且该载体(36)伸入到该第一壳体部分(8)内。

14.如上述权利要求中的至少一项所述的设备(1)，其特征在于，该第一辐射装置(2)间接照射该被测表面(10)。

15.一种专门用于对被测表面特别是对光泽的被测表面(10)进行光学测定的方法，其中，由一第一辐射装置(2)向该被测表面(10)发射辐射线，并通过至少一第一辐射探测装置(4)接收由至少一个辐射装置(2)发出的且随后从该被测表面(10)散射开来的至少部分辐射线、以及输出至少一种标识着被接收的辐射线的特性的检测信号，其中，一第二辐射装置(12)还以一个预设的入射角度(a)向该被测表面(10)发射辐射线，并且通过一第二辐射探测装置(14)接收由该第二辐射装置(12)发出的且随后从该被测表面(10)反射出来的至少部分辐射线，

其特征在于，

该第二辐射装置(12)向该被测表面(10)发射辐射线的该入射角度(a)不大于50°，该入射角度为辐射线的入射方向与该被测表面(10)的法线方向(M)所成的角度。