[发明专利]一种扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法

权利要求书

1.一种扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法，其具体包含以下步骤：

步骤1 在圆阵中选取一个等边三角形作为粗测阵列，三角形的其中两条边为两条基线，求这两条基线的模糊相位差                                                ，，穷举两基线的模糊相位差的得到组模糊相位差；

其中：，为基线长度，为入射信号波长，表示向上取整， ，，；

步骤2 利用步骤1中的组模糊相位差在三角阵中求得个方向余弦；                                                  

步骤3 将代入圆阵阵元间相位差计算公式求得个相位差向量； 

步骤4求取圆阵各阵元间的实测相位差向量；

步骤5 将步骤3中得到的个相位差向量作为样本，与步骤4 中的实测相位差向量作相关运算；

步骤6 选出步骤5中相似度最大的相位差向量样本，记为，计算出实测相位差向量的解模糊值。

2.如权利要求1所述的扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法，其特征在所述方法还包括：

步骤7 通过步骤6计算出来的实测相位差向量的解模糊值求解方向余弦的最小二乘解。

3.如权利要求2所述的扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法，其特征在所述方法还包括：

步骤8 通过步骤7中求得的方向余弦求解角度值。

4.权利要求1所述的扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法，其特征在所述步骤5中相关运算的相似度函数为：

                              

其中，为相位差向量长度。

5.权利要求1所述的扩展基线解模糊的相位干涉仪测向方法，其特征在所述步骤6中计算出实测相位差向量的解模糊值公式为：

                  

其中表示四舍五入到整数。