[发明专利]光脉冲试验装置及光传输通道试验方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种将光脉冲入射至试验对象的由光纤构成的光传输通道并接收其回光来进行光传输通道试验的光脉冲试验装置，尤其涉及一种试验对象的光传输通道的光纤种类无论是单模光纤(SMF)还是多模光纤(MMF)都不用变更包括光学系统在内的硬件设备就能够进行试验的技术。

背景技术

形成光传输通道的光纤有传输损失小且适合于长距离传输的SMF及传输损失比较大但价格低廉且适合于短距离传输的MMF。

光纤具有用折射率较小的包层部包围芯部周围的同轴结构，在与包层部的边界部分反射(或折射)入射至芯部的光并使之向其长度方向传播，SMF具有细(一般为9.2μm)芯，以便通过芯部时的传播模式(通道)成为1个，MMF具有粗(一般为50μm、62.5μm)芯，以便传播模式成为多个。

另一方面，如图5所示，用于进行基于光纤的传输通道试验的光脉冲试验装置通过光耦合器12将从光源11出射的光脉冲Pin供给至连接器13并入射至连接于连接器13的试验对象的光传输通道1，并且通过连接器13及光耦合器12将来自其光传输通道1的回光(反向散射光或菲涅尔反射光)Pr入射至光接收器14，从光脉冲Pin的入射时刻开始连续取得一定时间由光接收器14接收的回光Pr的强度数据，从其取得数据调查有无发生光传输通道1的障碍等。

但是，如上述，形成光传输通道1的光纤在远距离传播用时使用SMF，在短距离传播用时使用MMF，但是在以往的光脉冲试验装置中，由于其芯径不同而无法用单一的试验装置进行由SMF构成的光传输通道和由MMF构成的光传输通道的试验。

例如，当为SMF测定用的光脉冲试验装置时，连接器13的光纤芯的连接部设计成适合于SMF的芯径，在其连接器13上连接芯径格外粗的MMF时，在光脉冲入射时变成从小芯径向大芯径的入射而不发生较大损失，但来自MMF的回光中，由于变成从大芯径向小芯径的入射，因此发生不可忽视的损失。

相反地，当为MMF测定用的光脉冲试验装置时，连接器13的光纤芯的连接部设计成适合于MMF的芯径，所以在其连接器13上连接芯径格外细的SMF时，在将光脉冲入射至SMF时发生不可忽视的损失。

作为解决此类问题的技术，已知有如下技术：在MMF测定用的光脉冲试验装置中，通过低次模式励磁出射光来减少光从MMF向SMF入射时的损失，进一步通过改变出射光的偏振来防止因光路转换元件(相当于上述光耦合器12)的偏振依赖性引起的光接收强度的起伏(例如专利文献1)。

专利文献1：日本专利公开昭63-142230号公报

然而，上述技术基本上是对MMF用的光脉冲试验装置附加SMF的试验功能的技术，在因故障引起的损失较大的长距离传输用的SMF故障试验的精确度这一点上并不充分。

并且，其为对试验装置内的光纤连续赋予机械性力的结构，结构复杂并且在耐久性上存在问题。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种作为用于长距离传输的SMF用装置的同时，能够以简单的结构进行采用MMF的光传输通道的试验的光脉冲试验装置及光传输通道试验方法。

为了实现所述目的，本发明的权利要求1的光脉冲试验装置，其具有：

光源(21)，出射光脉冲；

连接器(23)，用于连接光纤的试验对象的光传输通道；

光接收器(25)；

光耦合器(22)，接收从所述光源出射的光脉冲并向所述连接器出射，通过所述连接器接收来自该光纤的回光，并入射至所述光接收器；

操作部(40)；

显示部(50)；及

信号处理部(30)，接收所述光接收器的输出，并连续取得入射至所述光接收器的回光的强度数据，根据该数据和通过所述操作部指定的试验用参数，求出试验对象的光纤相对于距离的传输特性并显示于所述显示部，其特征在于，

从所述光源到所述光耦合器之间、从该光耦合器到所述连接器之间及从所述光耦合器到所述光接收器之间分别通过由单模光纤构成的光路(Fa～Fc)连接，

所述信号处理部包括：

光纤种类指定构件(31a)，根据试验用参数，将试验对象的光纤种类指定为单模光纤、多模光纤中的任一种；

SMF参数指定构件(31b)，当通过所述光纤种类指定构件指定单模光纤时，指定采用该单模光纤的光传输通道的试验所需的参数，所述参数为包含该单模光纤的折射率的参数；及