[发明专利]薄膜晶体管矩阵基板及显示面板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201110229711.2 申请日: 2011-08-11
公开(公告)号: CN102254861A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 薛景峰;许哲豪;姚晓慧 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 欧阳启明
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 矩阵 显示 面板 制造 方法
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及薄膜晶体管制造技术领域,特别是涉及一种薄膜晶体管矩阵基板及显示面板的制造方法。

【背景技术】

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已被广泛应用于各种电子产品中,液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其是由液晶显示面板及背光模块(backlight module)所组成。一般的液晶显示面板包含彩色滤光片(Color Filter,CF)基板及薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)矩阵基板。CF基板上设有多个彩色滤光片和共同电极。TFT矩阵基板上设有多条彼此平行的扫描线、多条彼此平行的数据线、多个薄膜晶体管及像素电极,其中扫描线是垂直于数据线,且两相邻扫描线和两相邻数据线之间可界定像素(Pixel)区域。

在TFT矩阵基板的制程中,需使用多道光掩膜来进行光刻制程(Photo-lithography),然而,光掩膜相当昂贵,光掩膜数越多则TFT制程所需的成本越高,且增加制程时间及复杂度。再者,在光刻制程中,可能需进行多次湿蚀刻(wet etch),而容易对金属线造成影响。

故,有必要提供一种薄膜晶体管矩阵基板及显示面板的制造方法,以解决现有技术所存在的问题。

【发明内容】

本发明提供一种薄膜晶体管矩阵基板及显示面板的制造方法,以解决TFT制程问题。

本发明的主要目的在于提供一种薄膜晶体管矩阵基板的制造方法,所述制造方法包括如下步骤:

形成栅极于透明基材上;

依序形成栅极绝缘层、半导体层、欧姆接触层、电极层及第一光阻层于所述透明基材及所述栅极上;

图案化所述第一光阻层,以形成一沟道,所述沟道是形成于所述栅极的上方;

蚀刻所述欧姆接触层及所述电极层,以移除部分的所述欧姆接触层及部分的所述电极层,并形成源电极及漏电极于所述沟道的相对两侧;

涂布第二光阻层于所述图案化第一光阻层上,以及所述沟道内;

移除所述图案化第一光阻层上的所述第二光阻层,并保留所述沟道内的所述第二光阻层;

蚀刻所述半导体层,以移除部分所述半导体层;

移除所述图案化第一光阻层及所述第二光阻层;

形成保护层于所述沟道、所述源电极及所述漏电极上;以及

形成像素电极层于所述保护层上,其中所述像素电极层是电性连接于所述漏电极。

本发明的另一目的在于提供一种显示面板的制造方法,所述制造方法包括如下步骤:

形成栅极于透明基材上;

依序形成栅极绝缘层、半导体层、欧姆接触层、电极层及第一光阻层于所述透明基材及所述栅极上;

图案化所述第一光阻层,以形成一沟道,所述沟道是形成于所述栅极的上方;

蚀刻所述欧姆接触层及所述电极层,以移除部分的所述欧姆接触层及部分的所述电极层,并形成源电极及漏电极于所述沟道的相对两侧;

涂布第二光阻层于所述图案化第一光阻层上,以及所述沟道内;

移除所述图案化第一光阻层上的所述第二光阻层,并保留所述沟道内的所述第二光阻层;

蚀刻所述半导体层,以移除部分所述半导体层;

移除所述图案化第一光阻层及所述第二光阻层;

形成保护层于所述沟道、所述源电极及所述漏电极上;以及

形成像素电极层于所述保护层上,其中所述像素电极层是电性连接于所述漏电极,以完成一薄膜晶体管矩阵基板;以及

形成一液晶层于所述薄膜晶体管矩阵基板与彩色滤光片基板之间。

在本发明的一实施例中,当蚀刻所述欧姆接触层及所述电极层时,对所述欧姆接触层及所述电极层进行一次湿蚀刻,以移除所述欧姆接触层及所述电极层未被所述图案化第一光阻层遮蔽的部分。

在本发明的一实施例中,当涂布所述第二光阻层时,利用旋涂法、刮刀涂布法或滚轮涂布来涂布所述第二光阻层。

在本发明的一实施例中,在涂布所述第二光阻层后,在所述沟道内的所述第二光阻层的厚度是大于在所述图案化第一光阻层上的所述第二光阻层的厚度。

在本发明的一实施例中,当移除在所述图案化第一光阻层上的所述第二光阻层时,利用加热灰化来移除在所述漏电极及所述源电极上的所述第二光阻层。

在本发明的一实施例中,当蚀刻所述半导体层时,利用所述图案化第一光阻层及在所述沟道内的所述第二光阻层来作为光掩膜,并对所述半导体层进行干蚀刻。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110229711.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top