[发明专利]一种氧化硅的选择性刻蚀溶液及其制备方法和应用有效
申请号: | 201110234519.2 | 申请日: | 2011-08-16 |
公开(公告)号: | CN102254814A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 李涛;周春兰;宋洋;郜志华;罗运强;段野;李友忠;王文静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所;中轻太阳能电池有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01L31/18 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化 选择性 刻蚀 溶液 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种氧化硅的选择性刻蚀溶液及其制备方法和应用,其特征是,所述的选择性刻蚀溶液由质量浓度为1%~10%的氢氟酸溶液和相对介电常数大于氢氟酸相对介电常数83.6的溶剂组成,所述的氢氟酸溶液与所述的溶剂的体积比为1∶1~10∶1。
2.一种权利要求1所述的氧化硅的选择性刻蚀溶液的制备方法,其特征是,所述的氧化硅的选择性刻蚀溶液的制备方法,步骤如下:
1)加水稀释市售的质量浓度为40%的氢氟酸,制备得到质量浓度为1%~10%的氢氟酸溶液;
2)在步骤1)制得氢氟酸溶液中添加相对介电常数大于氢氟酸相对介电常数83.6的溶剂,氢氟酸溶液与溶剂的体积比为1∶1~10∶1,制备得到选择性刻蚀溶液(1)。
3.权利要求1所述的选择性刻蚀溶液的用途,其特征是,所述的选择性刻蚀溶液应用在激光刻蚀硅衬底的工艺步骤之后,用于在同时存在有氧化硅和氮化硅的工作面,去除激光刻蚀区域的氧化硅。
4.按照权利要求3所述的选择性刻蚀溶液的用途,其特征是,采用所述的选择性刻蚀溶液去除激光刻蚀区域的氧化硅,步骤如下:
1)将所述的氧化硅的选择性刻蚀溶液(1)置入顶端装有滚轴(4)的溶液槽(5)中,所述的选择性刻蚀溶液(1)恰好没过滚轴(4);
2)将经激光刻蚀后的硅衬底(2)置于滚轴(4)上,硅衬底(2)的工作面(3)向下与所述的选择性刻蚀溶液(1)接触;
3)驱动硅衬底(2),使硅衬底(2)随滚轴(4)旋转而前进,调节滚轴(4)的速度,使所述的选择性刻蚀溶液(1)处理工作面(3)的时间为5秒~120秒;
4)在经步骤5)处理过的工作面(3)上进行化学镀或者电镀。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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