[发明专利]样本采集方法及复制设备健康状况的预测方法有效
申请号: | 201110235933.5 | 申请日: | 2011-08-17 |
公开(公告)号: | CN102306504A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 王炜;才盛;高志鹏 | 申请(专利权)人: | 厦门市美亚柏科信息股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 北京恒都律师事务所 11395 | 代理人: | 何自刚 |
地址: | 361008 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样本 采集 方法 复制 设备 健康状况 预测 | ||
技术领域
本发明涉及复制设备健康状况预测技术领域,特别地,涉及一种样本采集方法及复制设备健康状况的预测方法。
背景技术
信息AQ 纳入国家重点研究课题以来,各种相关技术如雨后春笋层出不穷。很多时候,为了完整获取信息环境,复制设备复制成为信息采集的必要手段。目前复制设备复制技术已经相对成熟,各种复制软件和手持设备琳琅满目,但是对于复制设备健康状况的预测,却一直是困扰复制设备复制行业的极大难题。
复制设备的健康程度,直接关系到复制设备复制行为的时间长短,甚至是能否复制问题。如果复制设备健康程度低下,读写障碍严重,那么复制的时间很可能令操作人员无法容忍,甚至会进一步恶化被复制复制设备的健康状况。
目前虽然有相关的复制设备检测技术,但均存在很大不足:
第一种技术是读取复制设备S.M.A.R.T表,也就是从复制设备固件中获取复制设备的相关信息。这是复制设备的主控系统,利用自身的检测机制,对复制设备老化程度的判断。但是,因为复制设备的自查自检需要时间,这种技术根本无法对突然损坏的复制设备产生效果,例如被突然摔落的复制设备的坏扇区是无法马上被S.M.A.R.T记录的。
第二种技术是常见的坏扇区检测工具,此类工具虽然较多,但存在一个共同的缺陷就是:需要将复制设备从第一个扇区开始,依次检测,这种行为所耗费的复制设备读写资源已经不亚于复制,所以对复制技术而言,该技术没有实用价值。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于复制设备健康状况预测的样本采集方法,能够在花费时间少、占用资源少的状态下,准确地反映复制设备的健康状况。
为了解决上述问题,一方面提供了一种样本采集方法,用于复制设备健康预测,包括:根据复制设备的扇区数目计算复制设备检测的最小单位“块”的大小;将预设数量的所述块作为一个“框”单元,按照所述框单元划分整个所述复制设备;随机选择一个未读块,记录该块所在框的索引值;检测所述未读块所在框内的所有块或直至所述框内坏块的数量达到预设值;计算所述未读块所在框的坏块概率;随机选择下一个未读块,重复所述检测步骤。
优选的,所述步骤:检测所述未读块所在框内的所有块或直至所述框内坏块的数量达到预设值;具体包括:
扫描所述未读块内的所有扇区,记录坏扇区的比例A,同时标记该块已读;
根据预设的初始阙值B,判断所述块的好坏:如果A小于B,则将所述块标记为好块;反之,标记为坏块;
继续检测所述块所在框内的其它块:若所述块为好块,则提高阙值B,继续检测所述框内的其它块或直至所述框内坏块的数量达到预设值;若所述块为坏块,则降低所述阙值B,继续检测所述框内的其它块或直至所述框内坏块的数量达到预设值。
优选的,对于所述块为坏块的情况,降低所述阙值B,继续检测所述框内的其它块的具体步骤包括:
记录该块在所述框内的相对偏移量j;
如果所述相对偏移量j不大于框内所有块数量的一半,则按递增顺序向后选择下一个未读“块”,以此类推, 当扫描到“框”内最后一个“块”时,则开始从j按递减顺序向前选择,直到第一个“块”或者所述框内坏块的数量达到预设值;
如果所述相对偏移量j大于框内所有块数量的一半,则按递减顺序向前选择下一个未读“块”,以此类推,扫描到“框”内第一个“块”时,则开始从j按递增顺序向后选择,直到最后一个“块”或者所述框内坏块的数量达到预设值。
优选的,所述框内坏块的数量达到的预设值不小于所述框内总体块数的一半。
优选的,所述阙值B每次增加或降低的幅度为8%~12%。
相应的,还提供了一种复制设备健康状况的预测方法,包括:
获取所述权利要求1至5任一所述的样本采集方法获得的m个框的坏块概率P1、P2、P3……Pm;对所述m个框样本进行矩估计,推测整体复制设备的坏道情况。
优选的,所述对所述m个框样本进行矩估计,推测整体复制设备的坏道情
况,包括:
采用总体期望描述总体样本空间坏块概率的平均值,它的矩估计法即样本的一阶原点矩:
。
优选的,所述对所述m个框样本进行矩估计,推测整体复制设备的坏道情
况,进一步包括:
采用总体方差描述总体样本空间各“框”坏块概率的波动程度,使用样本方差:
进行估计。
优选的,所述对所述m个框样本进行矩估计,推测整体复制设备的坏道情况,还包括:
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