[发明专利]测量超声穿透深度的方法及系统

权利要求书

1.一种测量超声穿透深度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

设置层厚，对物体进行分层；

在超声作用下，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况；

根据所述每一层的温度变化情况得到超声穿透的层数；

根据所述超声穿透的层数及所述层厚得到超声穿透深度。

2.根据权利要求1所述的测量超声穿透深度的方法，其特征在于，还包括设定一个需求深度，判断所述超声穿透深度是否达到所述需求深度的步骤，如果达到需求深度，则继续用超声作用于物体；如果未达到需求深度，则调整超声的频率。

3.根据权利要求2所述的测量超声穿透深度的方法，其特征在于，还包括如下步骤：

根据所述每一层的温度变化情况，计算得到每一层的绝对温度；

设定一个需求温度，判断所述绝对温度是否等于需求温度，如果绝对温度等于需求温度，则继续用超声作用于物体；如果绝对温度高于或低于需求温度，则调整超声的强度。

4.根据权利要求1所述的测量超声穿透深度的方法，其特征在于，所述在超声作用下，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况的步骤前还包括对物体的每一层进行磁共振预扫描，得到未在超声作用下的每一层的基准相位图的步骤；所述在超声作用下，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况的步骤是：

对超声作用物体的每一层进行磁共振扫描，得到每一层超声相位图；

将所述超声相位图与所述基准相位图进行比较，得到物体的每一层的相位改变值；

根据所述每一层的相位改变值计算得到每一层的温度变化情况。

5.一种测量超声穿透深度的系统，其特征在于，包括：

磁共振成像模块，用于设置层厚，对物体进行分层，对物体的每一层进行磁共振温度成像，得到每一层的温度变化情况；

深度获取模块，用于根据每一层的温度变化情况得到超声穿透的层数，并根据所述超声穿透的层数及所述层厚得到超声穿透深度。

6.根据权利要求5所述的测量超声穿透深度的系统，其特征在于，还包括第一判断模块，用于设定一个需求深度，判断所述超声穿透深度是否达到需求深度，如果达到需求深度，则继续用超声作用于物体；如果未达到需求深度，则调整超声的频率。

7.根据权利要求6所述的测量超声穿透深度的系统，其特征在于，还包括：

绝对温度获取模块，用于根据所述每一层的温度变化情况，计算得到每一层的绝对温度；

第二判断模块，用于设定一个需求温度，判断所述绝对温度是否等于需求温度，如果绝对温度等于需求温度，则继续用超声作用于物体；如果绝对温度高于或低于需求温度，则调整声波的强度。

8.根据权利要求5所述的测量超声穿透深度的系统，其特征在于，所述磁共振成像模块包括：

扫描单元，用于对超声作用物体的每一层进行磁共振扫描，得到每一层超声相位图；所述扫描单元还用于在超声未作用于物体的情况下对物体的每一层进行磁共振预扫描，得到未在超声作用下的每一层的基准相位图；

比较单元，用于将所述超声相位图与所述基准相位图进行比较，得到物体的每一层的相位改变值；

计算单元，用于根据所述每一层的相位改变值计算得到每一层的温度变化情况。