[发明专利]一种应用于液晶显示模组的触控电容检测电路及方法无效

专利信息
申请号: 201110239959.7 申请日: 2011-08-11
公开(公告)号: CN102929455A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 李桂聪;曾庆阳;洪维舜 申请(专利权)人: 微创高科有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 成明新
地址: 中国香港新界沙*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 液晶显示 模组 电容 检测 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种应用于液晶显示模组的触控电容检测电路,其特征在于,所述检测电路包括形成于所述液晶显示模组中的信号电极与地之间的触控电容、集成电路开关、及形成于所述液晶显示模组中的信号电极与扫描电极之间的储存电容,所述集成电路开关连接于所述信号电极与扫描电极之间,所述触控电容一端连接于所述集成电路开关与所述信号电极之间。

2.如权利要求1所述的触控电容检测电路,其特征在于,每一个所述信号电极均有一个与其独立相对应的扫描电极。

3.如权利要求1或2所述的触控电容检测电路,其特征在于,在预先设置的检测间隔时间到达时闭合所述集成电路开关。

4.如权利要求3所述的触控电容检测电路,其特征在于,在所述集成电路开关闭合时,向所述信号电极及所述扫描电极输入用于检测触控感应的电容检测波形。

5.如权利要求4所述的触控电容检测电路,其特征在于,所述电容检测波形为RC振荡波形。

6.如权利要求3所述的触控电容检测电路,其特征在于,所述预先设置的检测间隔时间为500ms。

7.如权利要求4或5所述的触控电容检测电路,其特征在于,输入用于检测触控感应的电容检测波形的时间为5ms。

8.一种应用于液晶显示模组的触控电容检测方法,其特征在于,所述方法包括:

通过连接于信号电极与扫描电极之间的集成电路开关的闭合将所述信号电极与所述扫描电极进行连接;

在驱动液晶显示模组的波形中加入电容检测波形,所述电容检测波形用于检测形成于所述液晶显示模组中的信号电极与地之间的触控电容对人体的感应;

断开所述集成电路开关。

9.如权利要求8所述的触控电容检测方法,其特征在于,在预先设置的检测间隔时间到达时闭合所述集成电路开关。

10.如权利要求9所述的触控电容检测方法,其特征在于,所述预先设置的检测间隔时间为500ms。

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