[发明专利]光电传感器无效

专利信息
申请号: 201110239980.7 申请日: 2011-08-19
公开(公告)号: CN102956652A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 刘若鹏;栾琳;孙豪文 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光电 传感器
【权利要求书】:

1.一种光电传感器,其特征在于:包括基于CMOS工艺的平面光波导及以集成电路实现的传感器,所述平面光波导及传感器集成在一芯片上,所述平面光波导设置在金属布线层上,所述传感器的感光元件用于响应所述平面光波导传导的光信号。

2.根据权利要求1所述的光电传感器,其特征在于:所述平面光波导设置有外层及内层,所述外层包覆所述内层。

3.根据权利要求2所述的光电传感器,其特征在于:所述外层设置有N+埋层、重掺杂的深N阱、氧化层和钝化层,所述N+埋层位于所述内层的一侧,所述深N阱、氧化层和钝化层位于所述内层的另一侧。

4.根据权利要求2或3所述的光电传感器,其特征在于:所述内层为轻掺杂的P+外延层。

5.根据权利要求3所述的光电传感器,其特征在于:所述平面光波导还包括P型硅衬底,在所述P型硅衬底上通过N+离子注入形成所述N+埋层。

6.根据权利要求3所述的光电传感器,其特征在于:所述N+埋层上方通过等离子溅射形成所述内层。

7.根据权利要求4所述的光电传感器,其特征在于:所述P+外延层上通过氮化硅掩蔽和离子注入形成两个所述重掺杂的深N阱,所述两个重掺杂的深N阱位于所述P+外延层的两端。

8.根据权利要求4所述的光电传感器,其特征在于:所述P+外延层和深N阱上方生长形成所述氧化层,所述氧化层上方生长形成所述钝化层。

9.根据权利要求1至3任一项所述的光电传感器,其特征在于:所述传感器是CMOS传感器。

10.根据权利要求1至3任一项所述的光电传感器,其特征在于:所述CMOS传感器设置有若干像素结构,每一像素结构设置有顺秩电连接的光电二极管、放大器及场效应管,所述场效应管的源极与列线相连,所述场效应管的栅极与行线相连。

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