[发明专利]光电传感器无效
申请号: | 201110239980.7 | 申请日: | 2011-08-19 |
公开(公告)号: | CN102956652A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 刘若鹏;栾琳;孙豪文 | 申请(专利权)人: | 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
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地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 传感器 | ||
1.一种光电传感器,其特征在于:包括基于CMOS工艺的平面光波导及以集成电路实现的传感器,所述平面光波导及传感器集成在一芯片上,所述平面光波导设置在金属布线层上,所述传感器的感光元件用于响应所述平面光波导传导的光信号。
2.根据权利要求1所述的光电传感器,其特征在于:所述平面光波导设置有外层及内层,所述外层包覆所述内层。
3.根据权利要求2所述的光电传感器,其特征在于:所述外层设置有N+埋层、重掺杂的深N阱、氧化层和钝化层,所述N+埋层位于所述内层的一侧,所述深N阱、氧化层和钝化层位于所述内层的另一侧。
4.根据权利要求2或3所述的光电传感器,其特征在于:所述内层为轻掺杂的P+外延层。
5.根据权利要求3所述的光电传感器,其特征在于:所述平面光波导还包括P型硅衬底,在所述P型硅衬底上通过N+离子注入形成所述N+埋层。
6.根据权利要求3所述的光电传感器,其特征在于:所述N+埋层上方通过等离子溅射形成所述内层。
7.根据权利要求4所述的光电传感器,其特征在于:所述P+外延层上通过氮化硅掩蔽和离子注入形成两个所述重掺杂的深N阱,所述两个重掺杂的深N阱位于所述P+外延层的两端。
8.根据权利要求4所述的光电传感器,其特征在于:所述P+外延层和深N阱上方生长形成所述氧化层,所述氧化层上方生长形成所述钝化层。
9.根据权利要求1至3任一项所述的光电传感器,其特征在于:所述传感器是CMOS传感器。
10.根据权利要求1至3任一项所述的光电传感器,其特征在于:所述CMOS传感器设置有若干像素结构,每一像素结构设置有顺秩电连接的光电二极管、放大器及场效应管,所述场效应管的源极与列线相连,所述场效应管的栅极与行线相连。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的