[发明专利]应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法有效

专利信息
申请号: 201110240462.7 申请日: 2011-08-19
公开(公告)号: CN102360083A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: 彭宁嵩;陆志文;燕居朕;吴家荣 申请(专利权)人: 上海高晶影像科技有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01N23/04
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200083 上海市杨浦区翔*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 应用于 扫描 射线 安检 图像 皮带 方法
【权利要求书】:

1.一种应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,所述线扫描X射线安检机至少 包括,机架、设置于所述机架上的检测暗室、途径所述检测暗室用于输送待检物品的皮 带、设置在所述检测暗室并位于所述皮带一侧的X射线源、设置在所述检测暗室并位于 所述皮带另一侧的扫描探测器、设置在所述检测暗室入口处用以控制所述X射线源的光 电开关、设置在所述机架上的显示器以及中央控制装置,其特征在于,所述方法包括以 下步骤:

1)开机,采集初始本底数据和初始饱和数据,并计算出一组初始增益系数,以生成 一当前校准规则;

2)当所述光电开关被所述待检物品遮挡时,延时第一预设时间后开启所述X射线源, 然后,延时第二预设时间后开启所述扫描探测器,采集更新饱和数据;

3)判断所述光电开关是否仍被所述待检物品遮挡,若是,依据所述当前校准规则对 扫描的图像数据进行校准,并逐列拼接予以显示;若否,则延时第三预设时间后关闭所述 扫描探测器,然后,延时第四预设时间后关闭所述X射线源,延时第五预设时间后再次开 启所述扫描探测器,采集更新本底数据;以及

4)依据所述更新饱和数据及所述更新本底数据计算出一组更新增益系数,并依据所 述更新增益系数更新所述当前校准规则,并返回至步骤2),在下一次扫描作业中依据该更 新后的当前校准规则对图像数据进行校准。

2.根据权利要求1所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:

所述扫描探测器包括有多个探测器模块,并各该探测器模块中具有多个感光点。

3.根据权利要求2所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:

所述扫描探测器中的感光点为n个,将其中一感光点记为i,则

所述更新本底数据记为VOff i(i=1,2,3….n);

所述更新饱和数据记为VOn i(i=1,2,3….n);

所述更新增益系数则为Gi=2x/(Von i-VOff i),(i=1,2,3…n);以及

所述更新后的当前校准规则为Vreal i=(Vi-VOff i)×Gi,(i=1,2,3…n);其中,x为所述 扫描探测器的AD精度位数,Vi为该感光点i的实际电压值。

4.根据权利要求2所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:

于所述步骤1)中,包括:

1-1)开机;

1-2)开启所述扫描探测器,对所述扫描探测器中各探测器模块的每一个感光点进行 一次电压数据采集,将得到的各感光点的电压数据作为初始本底数据;

1-3)开启所述X射线源,对所述扫描探测器中各探测器模块的每一个感光点再进行 一次电压数据采集,将得到的各感光点的电压数据作为初始饱和数据;以及

1-4)依据所述初始本底数据及所述初始饱和数据计算出一组初始增益系数,以生成 一当前校准规则。

5.根据权利要求4所述的应用于线扫描X射线安检机中图像去皮带伪影的方法,其特征在于:

所述扫描探测器中的感光点为n个,将其中一感光点记为i,则

所述初始本底数据记为VOff i(i=1,2,3….n);

所述初始饱和数据记为VOn i(i=1,2,3….n);

所述初始增益系数则为Gi=2x/(Von i-VOff i),(i=1,2,3…n);以及

所述当前校准规则为Vreal i=(Vi-VOff i)×Gi,(i=1,2,3…n);其中,x为所述扫描探测 器的AD精度位数,Vi为该感光点i的实际电压值。

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