[发明专利]软碰撞光栅尺及其测量方法有效
申请号: | 201110240842.0 | 申请日: | 2011-08-22 |
公开(公告)号: | CN102359760A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 巫孟良 | 申请(专利权)人: | 广东万濠精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人: | 彭长久 |
地址: | 523000 广东省东莞市长安镇*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 碰撞 光栅尺 及其 测量方法 | ||
1.一种软碰撞光栅尺,其特征在于:包括有固定主尺、滑动副尺和活动测头;该滑动副尺相对固定主尺可滑动地设置,该滑动副尺和固定主尺上设置有彼此对应的光栅刻度;该活动测头随滑动副尺同步移动,且活动测头相对滑动副尺可滑动地设置,该活动测头和滑动副尺上设置有彼此对应的参照刻度;以及,针对该活动测头设置有缓冲机构。
2.根据权利要求1所述的软碰撞光栅尺,其特征在于:所述缓冲机构设置于活动测头和滑动副尺之间,该缓冲机构包括有两缓冲弹性件,该两缓冲弹性件的一端与滑动副尺连接,两缓冲弹性件的另一端分别对应与活动测头的两端连接。
3.根据权利要求2所述的软碰撞光栅尺,其特征在于:所述缓冲弹性件为弹簧。
4.根据权利要求1所述的软碰撞光栅尺,其特征在于:所述活动测头包括有一基部以及于该基部向外延伸出的头部。
5.根据权利要求1所述的软碰撞光栅尺,其特征在于:所述光栅刻度包括有设置于固定主尺上的第一光栅刻度以及设置于滑动副尺上的第二光栅刻度;该参照刻度包括有两设置于滑动副尺上的第一参照刻度和一设置于活动测头上的第二参照刻度,该第二参照刻度位于两第一参照刻度之间,原位状态时,该第二参照刻度位于该两第一参照刻度的中间位置。
6.根据权利要求5所述的软碰撞光栅尺,其特征在于:进一步包括有读数系统,该读数系统包括有第一光电器件、第二光电器件、计数器、锁存器和运算器;前述第一光栅刻度和第二光栅刻度均与第一光电器件连接,该第一光电器件连接该计数器;前述第一参照刻度和第二参照刻度均连接第二光电器件,该第二光电器件和计数器均连接锁存器,该锁存器连接运算器。
7.一种如权利要求1所述软碰撞光栅尺的测量方法,其特征在于:包括的步骤有
(1)将活动测头的伸出端置于被测物的第一阻挡面和第二阻挡面之间,其中该活动测头伸出端的宽度为L,并将固定主尺固定,记录下滑动副尺相对固定主尺的原始位置以及活动测头相对滑动副尺的原始位置;
(2)使滑动副尺朝向第一阻挡面滑动而使得活动测头抵于该第一阻挡面上,测出活动测头相对滑动副尺位移的距离为S1,以及测出滑动副尺相对固定主尺位移的距离为S2;
(3)使滑动副尺和活动测头回到原始位置,并使滑动副尺朝向第二阻挡面滑动而使得活动测头抵于第二阻挡面上,测出活动测头相对滑动副尺位移的距离为S3;以及测出滑动副尺相对固定主尺位移的距离为S4;
(4)计算出被测物之第一阻挡面和第二阻挡面之间的距离为:(S2-S1)+(S4-S3)+L。
8.根据权利要求4所述的软碰撞光栅尺的测量方法,其特征在于:在步骤(2)和步骤(3)中,首先,通过利用第二光电器件读取活动测头相对滑动副尺位移的距离为S1和S3,并将读取到的数据储存在锁存器中;同时,配合利用第一光电器件和计数器读取滑动副尺相对固定主尺位移的距离为S2和S4,并将读取到的数据储存在锁存器中;接着,通过运算器将锁存器中的数据进行运算处理得出第一阻挡面和第二阻挡面之间的距离为:(S2-S1)+(S4-S3)+L。
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