[发明专利]阵列测试装置

权利要求书

1.一种阵列测试装置，包括：

支撑板，所述支撑板具有测试部分，玻璃面板的目标部分附着于所述测试部分，且在所述支撑板中位于所述测试部分的两侧形成有多个吸气孔，

其中，在所述支撑板的测试部分的面向所述玻璃面板的表面中形成有多个吸附槽，每个所述吸附槽与所述吸气孔中的至少一个相连通。

2.根据权利要求1所述的阵列测试装置，还包括：

调制器，所述调制器包括：第一面板；第二面板；电光材料层，所述电光材料层设置在所述第一面板与所述第二面板之间；第一配向膜和第二配向膜，所述第一配向膜和第二配向膜分别设置于所述第一面板和所述第二面板上，设置方式为使得所述第一配向膜和所述第二配向膜彼此面对；以及调制器电极层，所述调制器电极层设置在所述第一面板上，

其中，所述支撑板的吸附槽延伸的方向与所述第一配向膜和第二配向膜的配向方向相同。

3.根据权利要求2所述的阵列测试装置，还包括：

光源，所述光源朝所述调制器发出光；以及

偏振板，所述偏振板设置在所述光源与所述调制器之间，以使从所述光源发出的光偏振，

其中，所述支撑板的吸附槽延伸的方向与光被所述偏振板偏振的方向相同。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的阵列测试装置，其中，每个所述吸附槽的曲率半径的范围是从20mm至40mm。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的阵列测试装置，其中，每个所述吸附槽的深度的范围是从0.10mm至0.20mm。