[发明专利]一种汽车电子中接触端子的失效分析方法无效
| 申请号： | 201110242113.9 | 申请日： | 2011-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN102323282A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 张涛 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 汽车 电子 接触 端子 失效 分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种汽车电子中接触端子的失效分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
A、使用扫描电子显微镜对接触端子样品进行表面观察，查看表面镀层是否均一、完整以及是否有间隙和微裂纹；
B、使用X射线特征粒子能量谱仪分析接触端子样品表面元素，查看是否有影响导电性的元素化合物；
C、使用X射线光电子能谱进行接触端子样品表面化合物官能团分析，探测表面异常化合物组成形式；
D、制作接触端子样品为金相切片样品；
E、使用扫描电子显微镜和X射线特征粒子能量谱仪对制作好的金相切片样品进行观察分析；
F、综合分析以上步骤得出的结论，总结出接触端子样品失效的具体原因。
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