[发明专利]一种汽车电子中接触端子的失效分析方法无效
申请号: | 201110242113.9 | 申请日: | 2011-08-23 |
公开(公告)号: | CN102323282A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 张涛 | 申请(专利权)人: | 上海华碧检测技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22;G01N23/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200433 上海市杨*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 汽车 电子 接触 端子 失效 分析 方法 | ||
1.一种汽车电子中接触端子的失效分析方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:
A、使用扫描电子显微镜对接触端子样品进行表面观察,查看表面镀层是否均一、完整以及是否有间隙和微裂纹;
B、使用X射线特征粒子能量谱仪分析接触端子样品表面元素,查看是否有影响导电性的元素化合物;
C、使用X射线光电子能谱进行接触端子样品表面化合物官能团分析,探测表面异常化合物组成形式;
D、制作接触端子样品为金相切片样品;
E、使用扫描电子显微镜和X射线特征粒子能量谱仪对制作好的金相切片样品进行观察分析;
F、综合分析以上步骤得出的结论,总结出接触端子样品失效的具体原因。
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