[发明专利]一种汽车电子中接触端子的失效分析方法无效

专利信息
申请号: 201110242113.9 申请日: 2011-08-23
公开(公告)号: CN102323282A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 张涛 申请(专利权)人: 上海华碧检测技术有限公司
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22;G01N23/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 汽车 电子 接触 端子 失效 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种汽车电子中接触端子的失效分析方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:

A、使用扫描电子显微镜对接触端子样品进行表面观察,查看表面镀层是否均一、完整以及是否有间隙和微裂纹;

B、使用X射线特征粒子能量谱仪分析接触端子样品表面元素,查看是否有影响导电性的元素化合物;

C、使用X射线光电子能谱进行接触端子样品表面化合物官能团分析,探测表面异常化合物组成形式;

D、制作接触端子样品为金相切片样品;

E、使用扫描电子显微镜和X射线特征粒子能量谱仪对制作好的金相切片样品进行观察分析;

F、综合分析以上步骤得出的结论,总结出接触端子样品失效的具体原因。

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