[发明专利]四极型质量分析装置有效
申请号: | 201110250005.6 | 申请日: | 2008-05-26 |
公开(公告)号: | CN102324377A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 向畑和男;中野茂畅;藤本穰 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 四极型 质量 分析 装置 | ||
1.一种四极型质量分析装置,具备四极质量过滤器和检测器,上述四极质量过滤器选择性地使具有特定质量的离子通过,上述检测器对通过了该四极质量过滤器的离子进行检测,该四极型质量分析装置执行扫描测量或者执行使依次设定多个质量的周期重复的测量,在该扫描测量中使在规定的质量范围的整个范围内扫描要通过上述四极质量过滤器的离子的质量的周期重复,该四极型质量分析装置的特征在于,还具备:
a)四极驱动单元,其对构成上述四极质量过滤器的各电极施加规定的电压;以及
b)控制单元,在进行扫描测量或者进行使依次设定多个质量的周期重复的测量时,该控制单元在控制上述四极驱动单元以与质量相应地扫描或者改变对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压的情况下,根据周期的开始质量与结束质量之间的质量差来改变从一个周期的结束起到下一周期的开始为止的等待时间。
2.根据权利要求1所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
周期的开始质量与结束质量之间的质量差越小,上述控制单元使上述等待时间越短。
3.根据权利要求1所述的四极型质量分析装置,其特征在于,在进行扫描测量时,该控制单元设定针对所指定的质量范围的位于该范围之上和之下的至少一方的扫描余量,控制上述四极驱动单元以改变对构成上述四极质量过滤器的各电极施加的施加电压来对增加了与该扫描余量相应的量的质量范围进行扫描,并且该控制单元根据扫描速度改变上述扫描余量的质量宽度。
4.根据权利要求3所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
扫描速度越小,上述控制单元使上述扫描余量的质量宽度越小。
5.根据权利要求3或4所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
上述控制单元还根据扫描开始质量改变上述扫描余量的质量宽度。
6.根据权利要求5所述的四极型质量分析装置,其特征在于,
上述控制单元还根据被导入到上述四极质量过滤器的离子的加速电压来改变上述扫描余量的质量宽度。
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