[发明专利]四叔丁氧基锆的合成方法无效
申请号: | 201110254599.8 | 申请日: | 2011-08-31 |
公开(公告)号: | CN102295656A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 韩建林;潘毅;虞磊;孔令宇;曹季 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | C07F7/00 | 分类号: | C07F7/00 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 李纪昌 |
地址: | 210093*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 四叔丁氧基锆 合成 方法 | ||
技术领域
本发明涉及化学领域中金属有机配合物的合成方法,尤其涉及一种四叔丁氧基锆的合成方法。
背景技术
随着超大规模集成电路技术的不断发展,作为其基础器件的MOS晶体管尺寸不断缩小,当SiO2栅介质的厚度减小到纳米量级时,通过SiO2的漏电流随厚度减小成指数增长,这样巨大的漏电流不仅严重影响到器件性能,而且最终导致SiO2不能起到绝缘作用。使用高介电常数(即高K材料)替代SiO2是目前最有希望解决此问题的途径。由于高K材料的使用,在保持相同电容密度的同时栅介质可以有比较大的物理厚度,从而避免了在超薄SiO2栅介质中隧穿导致的漏电流问题。
在选择合适的材料来代替SiO2的探索中,已经有很多材料被尝试过。通过不断的比较材料特性,寻找适合ALD和CVD使用的高k和金属栅材料前驱物。对于32nm技术节点来讲,材料的挥发性,输运方式以及纯度等问题变得至关重要。
随着信息存储和获取量的大幅提升,对于更高k值材料的需求也不断升温,需满足介电常数、热力学稳定性、栅极电极兼容和界面层稳定性等生产上的要求;其中,锆、铪及稀土元素等的有机化合物的介电常数和禁带宽度相对较高,基本符合栅介质材料的要求而引起业界极大的关注。
研制四叔丁氧基锆化合物正是针对以上高K前驱体的用途而进行的。四叔丁氧基锆常温下是液体,是对空气和水汽敏感的化合物,能溶于醇类、苯、四氯化碳等有机溶剂中。具有相对较好的热稳定性和较好的饱和蒸汽压。主要用于CVD和ALD中制备氧化锆或含氧化锆组分氧化物薄膜的前体源。目前报到的四叔丁氧基锆化合物的合成主要有三种方法:第一种是要以四异丙氧基锆为原料,和叔丁醇进行酯交换反应,得到最终的四叔丁氧基锆化合物。这种方法原料就不简单易得,其次酯交换反应反应速率较慢,条件比较苛刻,这种方法具有明显的局限性。第二种方法是在高纯氨存在的条件下,以四氯化锆为原料和叔丁醇反应来合成最后的四叔丁氧基锆化合物。这种方法需要在氨气存在的条件下进行,这给操作带来一定的麻烦。最后一种是电化学合成法,反应不易操作,尤其不太适合批量的生产。所以虽然已经有关于四叔丁氧基锆的合成,但方法还需要进行改进,以便能在简单的条件下,从简单易得的原料出发合成出四叔丁氧基锆化合物。
发明内容
解决的技术问题:本发明主要针对目前现有技术中四叔丁氧基锆的合成方法的不足,提供了一种新型的合成方法。该方法首先从简单易得的叔丁醇钾出发,然后和固体四氯化锆直接反应,不仅可以更高效地得到目标产物,还可以降低反应成本,简化反应操作。反应使用烃类溶剂作为溶剂,反应结束以后直接除去溶剂后蒸馏就可以得到最后得化合物。
技术方案:
本发明所述的四叔丁氧基锆化合物具有如下结构:
四叔丁氧基锆(Zr(OC(Me)3)4)室温下是液态源,沸点:89 oC/5 mmHg。
四叔丁氧基锆的合成方法,合成步骤为:
(1)在氮气氛下,按每50克叔丁醇钾中加入100~400毫升正己烷的比例,三颈瓶内加入叔丁醇钾和正己烷,搅拌均匀;
(2)按四氯化锆:叔丁醇钾为1:4.4~1:4.8的摩尔比,将四氯化锆加入到上述反应体系中,保持反应体系的温度在20到60℃之间,在加完四氯化锆后,让反应体系的温度保持在40-65℃之间,惰性气体保护的条件下搅拌反应4-8小时;
(3)然后1个大气压下除掉反应的溶剂,等溶剂正己烷全部除去后,减压蒸馏,收集89-91℃/5 mmHg的馏分,即为四叔丁氧基锆化合物。
有益效果:
(1) 反应从简单易得叔丁醇钾和四氯化锆为原料直接反应,操作简单,且降低了成本。
(2) 投料过程中,固体四氯化锆可以直接加入到反应体系中,使得反应得操作十分简便。且加入四氯化锆的过程中,无需对反应体系进行相应的冷却,这也使得反应操作简便。
(3) 反应使用简单得烃类作为溶剂,不仅降低了反应的成本,而且大大降低了反应的毒性。
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