[发明专利]一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法无效
申请号: | 201110257831.3 | 申请日: | 2011-09-01 |
公开(公告)号: | CN102306010A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 蔺小军;史耀耀;杨阔;张军锋;李小彪;段继豪;董婷 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G05B19/4097 | 分类号: | G05B19/4097 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 数控 抛光 叶片 轨迹 确定 方法 | ||
1.一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法,其特征在于:包括以下步骤,
步骤1:通过三维CAD建模软件建立叶片的三维模型,以叶片流道线方向为u方向,与流道线垂直方向为v方向;沿v方向在建立的叶片三维模型上插入间隔不大于5mm的α条等参数线,采用α条等参数线扫掠出叶片型面曲面,得到叶片型面的参数化模型;
步骤2:沿u方向在步骤1得到的参数化后的叶片型面上插入β条等分线,将参数化后的叶片型面沿u方向等分成β-1段,其中每段宽度不大于抛光轮宽度的1/4;并在每条等分线上插入分段点,同一条等分线上相邻两个分段点沿等分线的距离不大于5mm;
步骤3:确定第k段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹:第k段参数化后的叶片型面由第βk条和第βk+1条等分线组成,其中第βk条等分线上有M个分段点,第βk+1条等分线上有N个分段点;
步骤3.1:将第βk条等分线上的第i个分段点与第βk+1条等分线上的所有分段点连接,得到N条线段,沿第k段参数化后的叶片型面的法线方向测量每条线段与第k段参数化后的叶片型面的最大距离,得到最大距离集合LN,取对应LN中最小值的一条线段作为第i个分段点的拟合线段;
步骤3.2:循环进行步骤3.1,直至得到第βk条等分线上所有分段点的拟合线段,采用第βk条等分线上所有分段点的拟合线段扫掠得到第k段参数化后的叶片型面的拟合直纹面;
步骤3.3:将拟合直纹面沿法线方向偏置抛光轮半径距离得到等距面;在等距面上沿u方向插入P条等距线,相邻两条等距线距离不大于抛光轮宽度的1/8;在每条等距线上插入接触点,同一等距线上相邻两个接触点距离不大于5mm,以接触点在 加工坐标系中坐标作为抛光轮在叶片型面上的加工点坐标,以接触点处的主法线方向作为抛光刀轴的中心轴线矢量方向,从而确定了第k段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹;
步骤4:循环进行步骤3,直至得到所有β-1段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹。
2.根据权利要求1所述的一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法,其特征在于:
步骤3.1:将第βk+1条等分线上的第i个分段点与第βk条等分线上的所有分段点连接,得到M条线段,沿第k段参数化后的叶片型面的法线方向测量每条线段与第k段参数化后的叶片型面的最大距离,得到最大距离集合LM,取LM中数值最小的一条线段作为第i个分段点的拟合线段;
步骤3.2:循环进行步骤3.1,直至得到第βk+1条等分线上所有分段点的拟合线段,采用第βk+1条等分线上所有分段点的拟合线段扫掠得到第k段参数化后的叶片型面的拟合直纹面。
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