[发明专利]一种模拟深部位移引发地层变形协调机制的试验装置有效

专利信息
申请号: 201110259238.2 申请日: 2011-09-05
公开(公告)号: CN102426396A 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 王建秀;隋东昌;田普卓;胡蒙蒙;汪沛 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01V9/00 分类号: G01V9/00
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 张磊
地址: 200092 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 模拟 部位 引发 地层 变形 协调 机制 试验装置
【权利要求书】:

1.一种模拟深部位移引发上覆地层变形协调机制的试验装置,包括模型箱、地层相似材料、成型固定位移边界模具、气囊和测量设备,其特征在于:模型箱(1)为透明柱体结构,钢架(5)位于模型箱(1)顶部,所述成型固定位移边界模具(22)按照模型试验要求的位移边界条件预制而成,成型固定位移边界模具(22)位于模型箱(1)内底部,气囊(16)位于成型固定位移边界模具(22)凹槽内,气囊(16)上方设有地层相似材料,地层相似材料上方设有测量设备;气囊(16)顶部中心设有气囊接口(15),所述气囊接口(15)连接输气管(10)一端,输气管(10)另一端连接调压阀(17)和气压计(18),气囊(16)内设有气压计(14);测量设备包括接触式电测位移计(2)、垫片(3)、接触式电测位移计固定块(4)、分层位移计(6)、分层沉降标(7)、分层沉降位移计固定块(8)和套管(9),接触式电测位移计(2)通过接触式电测位移计固定块(4)于钢架(5)下部,接触式电测位移计(2)通过接触式电测位移计数据线(19)连接电脑(20),垫片(3)的底面紧贴地层相似材料,顶面与接触式电测位移计(2)探针接触,垫片(3)随着地层相似材料移动而移动,接触式电测位移计(2)探针将探测到的垫片(3)位移传输到电脑(20)中进行信号转化,形成位移数据;分层位移计(6)通过分层沉降位移计固定块(8)固定于钢架(5)下部,分层位移计(6)通过分层沉降位移计数据线(21)连接电脑(20),分层沉降标(7)底端固定于垫片(3)上,顶端与分层位移计(6)接触,分层位称计(6)探针将探测到的垫片(3)位移传输到电脑(20)中进行信号转化,形成位移数据;套管(9)套于分层沉降标(7)外,套管(9)底部与垫片(3)接触,顶部与一带孔的金属薄片焊接,所述带孔的金属薄片孔径大于分层沉降标(7)的直径。

2.根据权利要求1所述的模拟深部位移引发地层变形协调机制的试验装置,其特征在于所述接触式电测位移计(2)为4-10个。

3.根据权利要求1所述的模拟深部位移引发地层变形协调机制的试验装置,其特征在于所述分层位移计(6)为5-20个,相应的,分沉降标(7)和套管(9)为5-20个。

4.根据权利要求1所述的模拟深部位移引发地层变形协调机制的试验装置,其特征在于成型固定边界模具(22)的中部设有凹槽,气囊(16)位于所述凹槽内,气囊(16)与凹槽的结构相匹配。

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