[发明专利]一种提高DIMM测试效率的方法

说明书

 

技术领域

本专利涉及一种微电子技术领域，具体涉及一种提高DIMM测试效率的方法。

背景技术

DIMM（Dual Inline Memory Modules,双列直插式存储模块），即通常所讲的内存条。具体分为UDIMM（Unbuffered DIMM,无缓冲双列直插式存储模块，通常用于普通商业/家庭主机）和RDIMM（Registered DIMM，寄存器双列直插式存储模块，通常用于服务器）。

通常的内存测试，是通过计算机主板，利用专用软件进行读写测试。受限于一般计算机主板不支持RDIMM，服务器主板价格高昂，同时DIMM插槽在主板上数量有限，而且专用测试软件测试速度偏慢。这为DIMM的新产品研发带来了不方便。

发明内容　　

本发明提供一种DIMM测试的方法。

本发明的nudity是按以下方式实现的，利用FPGA验证系统编程的灵活性，实现DIMM逻辑构建DIMM测试系统，具备支持UDIMM和RDIMM功能，DIMM测试系统由现场可编程门阵列FPGA芯片、通用控制芯片、通用高速接口和多通道DIMM接口组成，DIMM测试系统设计在一块测试板上，测试时Host主设备端通过SATA高速接口向DIMM测试系统发送读写指令，通用控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作；

DIMM逻辑中，包含DIMM选择逻辑，时钟/控制信号缓冲逻辑和DIMM控制逻辑三部分；

测试步骤如下：

DIMM测试系统使用时，Host主设备端通过高速接口向系统发送读写指令，控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作；

FPGA芯片内部实现的逻辑由以下部分组成，AHB总线，DIMM选择逻辑，时钟/控制信号缓冲逻辑，DIMM控制逻辑，总线矩阵，DMA，SATA控制逻辑和片上存储组成，系统上电后，系统根据DIMM信号，由DIMM选择逻辑的仲裁器，来控制选择器来选择DIMM控制和时钟信号的通路，如为UDIMM则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑，总线矩阵为多通道DIMM提供每条通道的独立总线来提高系统稳定，DMA支持高速读写数据传输，一块测试板，达到兼容多通道的RDIMM或UDIMM，实现高速读写，从而提高DIMM的测试效率。

附图说明

图1为一种DIMM测试的电路原理框图。

图2为FPGA中DIMM逻辑的电路原理框图。

具体实施方式

参照附图对本发明的方法做一下详细的说明；

本专利利用FPGA编程的灵活性，实现DIMM逻辑，并且具备兼容UDIMM（Unbuffered DIMM,无缓冲双列直插式存储模块）和RDIMM（Registered DIMM，寄存器双列直插式存储模块）。由FPGA（现场可编程门阵列）芯片、通用控制芯片（本例为ARM7-TestChip）、通用高速接口（本例为SATA）和多通道（本例为10个）DIMM（Dual Inline Memory Modules,双列直插式存储模块）接口组成DIMM验证系统。验证系统组成一个电子盘，Host端（主设备端）通过高速接口向系统发送读写指令，控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作。

实施例

如图1所示，FPGA平台由FPGA芯片，ARM芯片，SATA逻辑和DIMM逻辑组成。验证系统组成一个电子盘，Host主设备端通过高速接口向系统发送读写指令，控制芯片负责指令解析及通过控制DIMM逻辑来对待测试DIMM进行读写操作。

如图2所示，FPGA芯片内部实现的逻辑由以下部分组成，AHB总线，DIMM选择逻辑，时钟/控制信号缓冲逻辑，DIMM控制逻辑，总线矩阵，DMA，SATA控制逻辑和片上存储组成。系统上电后，系统根据DIMM信号，由DIMM选择逻辑的仲裁器，来控制选择器来选择DIMM控制和时钟信号的通路，如为UDIMM则直接接入DIMM控制逻辑，如为RDIMM则通过时钟/控制信号缓冲逻辑接入DIMM控制逻辑。总线矩阵为多通道DIMM提供每通道的独立总线，提高系统稳定。DMA支持高速读写数据传输。

由一块测试板，达到兼容多通道的RDIMM或UDIMM，并且可高速读写，从而提高DIMM的测试效率。

除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。