[发明专利]一种利用物理特征识别的防伪方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种对物质的物理防伪方法和系统，尤其涉及的是一种利用照射物质并采集的自身物理特征实现防伪的方法和系统。

背景技术

现有技术中的纸张防伪或票据防伪，主要都是通过加入特殊控制的原料或者特别纸张，通过对原料或相关技术的严格控制来达到防伪的目的，例如在纸张中添加荧光纤维以实现对物理特征的独特化。

但额外采用一定的物理特征原料或技术控制来实现纸张防伪时，如添加荧光纤维，需要较高要求的加工工艺，对生产的成本和技术水平要求高，其实现的系统化要求复杂，需要对传统的造纸工艺增加额外的添加过程，工艺过于复杂，同时增加纸张的成本。从技术方面讲，实际上，既然一方可以生产相关材料，仿冒者也就同样可能生产，随着科技的进步，一个工艺的独有性几乎是不可能的，而且仿冒者也可以通过其它途径获得相关物理特征原料和技术。一旦失去对用于防伪的物质或技术的专有性，那么这样的防伪技术也就失去了防伪的意义。此外，以荧光纤维防伪而言，其也是无法抵御荧光打印克隆的。

现有技术中，本发明发明人之前所采用的技术方案如图2所示，是直接通过放大采集纸张纹理特征的技术，但在采集图像时，尤其是较大放大倍数的图像采集时，这种采集方式是很难采集到清晰图像的。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种利用物理特征识别的防伪方法和系统，针对无需额外增加其他防伪结构而采用本身物理特征进行防伪的技术，寻找适合于低成本实现的技术手段，以实现对诸如纸张等物质的防伪鉴别。

本发明的技术方案如下：

一种利用物理特征识别的防伪方法，其方法包括以下步骤：

A、在待鉴别的物质上预先确定采集物理特征的位置，将待鉴别物质放置在光源照射下，并由光学系统和光学传感器通过采集反射图像进行物理特征图像的采集；

    该物理特征图像的采集通过先后至少两次：第一次由第一预定角度的第一光源照射下实现，第二次由第二预定角度的第二光源照射下实现；该第一预定角度与第二预定角度保证两个光源照射下的物理特征图像有可识别的区别；

B、对两次采集的物理特征图像分别进行图像处理，提取物理特征数据，并记录到特征数据库；

C、在鉴别该物质真伪时，通过步骤A的光学系统采用同样的倍数，在同样的位置两次获取其物理特征图像，并进行同样的图像数据处理，提取图像中的物理特征数据；

D、与特征数据库中记录存储的对应物理特征数据进行模式识别，判断是否一致，以判断该物质的真伪。

所述的防伪方法，其中，所述第一预定角度为与纸面呈接近90度；所述第二预定角度为与纸面呈接近0度。

所述的防伪方法，其中，所述物理特征包括纹理、密度和/或高度。

所述的防伪方法，其中，所述物质为纸张。

所述的防伪方法，其中，所述步骤A中获取物理特征图像时，所述光学系统采用放大预定倍数、缩小预定倍数或保持与实物同等大小的倍数方式获取物理特征图像。

所述的防伪方法，其中，所述步骤Ａ中获取物理特征图像时，所述光学系统采用不定的放大倍数，并在所述物理特征数据中进行记录。

所述的防伪方法，其中，在步骤Ｂ中还将所述物理特征数据记载到二维码中并印刷在所述待鉴别的物质表面上，并在步骤Ｄ中通过读取二维码中的数据进行判断对比识别。

所述的防伪方法，其中，对所述物理特征数据还进行加密运算后再记载到二维码中。

一种利用物理特征识别的防伪系统，其包括：

一预先存储物理特征数据的特征数据库；

一光学系统及一光学传感器，以及一第一光源，设置在以第一预定角度照射的位置；以及一第二光源，设置在以第二预定角度照射的位置，所述第一预定角度与所述第二预定角度保证两个光源照射下的物理特征图像有可识别的区别；所述光学系统用于对待检测的物质予以定位，并对该位置的物质予以分辨率调整，由所述光学传感器获取该定位处的两个不同物理特征图像；

一图像处理模块，用于将所述两物理特征图像处理成为物理特征数据；

一模式识别模块，用于比对所述特征数据库中存储的对应物理特征数据及所述图像处理模块生成的物理特征数据是否一致，并判断所述待检测物质的真伪。

所述的防伪系统，其中，所述第一预定角度为与纸面呈接近90度；所述第二预定角度为与纸面呈接近0度。