[发明专利]校正提取信号方法、装置及基站系统

权利要求书

1.一种校正提取信号方法，其特征在于，包括步骤：

S1、预先存储下行信号各个频点对应的信号提取单元的S参数；

S2、根据系统实际下行信号频点，从所述存储的S参数中提取与所述实际下行信号频点对应的信号提取单元的S参数；

S3、根据所述提取的信号提取单元的S参数对系统所提取的信号进行校正。

2.根据权利要求1所述的校正提取信号方法，其特征在于，

所述信号提取单元包括正向信号提取单元和/或反射信号提取单元；

所述正向信号提取单元的S参数包括正向信号差损参数和正向信号泄露参数；

所述反射信号提取单元的S参数包括反射信号差损参数和反射信号泄露参数。

3.根据权利要求2所述的校正提取信号方法，其特征在于，

所述步骤S1进一步包括：预先存储下行信号各个频点对应的正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数；

所述步骤S2进一步包括：根据系统实际下行信号，从所述存储的参数中提取正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数；

所述步骤S3进一步包括：根据所述提取的正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数，分别对系统的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正；

其中，所述正向信号传输链路为正向信号提取单元输出口后传输正向信号所经过的链路，所述反射信号传输链路为反射信号提取单元输出口后传输反向信号所经过的链路。

4.根据权利要求1至3任一项所述的校正提取信号方法，其特征在于，所述分别对系统的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正包括：

对实际下行信号各个频点对应的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正，计算校正后的所述反馈信号和/或反射信号的平均值。

5.根据权利要求1至3任一项所述的校正提取信号方法，其特征在于，所述步骤S2进一步包括：从系统实际下行信号的通带内滤出一个载波，从所述存储的S参数中提取与所述滤出载波的频点对应的S参数；

所述步骤S3中的所述分别对系统的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正包括：

根据所述提取的S参数，对滤出载波频点对应的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正。

6.根据权利要求5所述的校正提取信号方法，其特征在于，

所述滤出的载波为输出功率最大的载波。

7.一种校正提取信号装置，其特征在于，包括：

预存模块，用于预先存储下行信号各个频点对应的信号提取单元的S参数；

参数提取模块，用于根据系统实际下行信号频点，从所述存储的S参数中提取与所述实际下行信号频点对应的信号提取单元的S参数；

校正模块，用于根据所述提取的信号提取单元的S参数对系统所提取的信号进行校正。

8.根据权利要求7所述的校正提取信号装置，其特征在于，

所述信号提取单元包括正向信号提取单元和/或反射信号提取单元；

所述预存模块进一步用于预先存储下行信号各个频点对应的正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数；

所述参数提取模块进一步用于根据系统实际下行信号，从所述存储的参数中提取正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数；

所述校正模块进一步用于根据所述提取的正向信号传输链路和/或反射信号传输链路的S参数，分别对系统的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正；

其中，所述正向信号传输链路为正向信号提取单元输出口后传输正向信号所经过的链路，所述反射信号传输链路为反射信号提取单元输出口后传输反向信号所经过的链路。

9.根据权利要求7或8所述所述的校正提取信号装置，其特征在于，所述校正模块进一步用于对实际下行信号各个频点对应的反馈信号和/或反射信号的测量值进行校正，计算校正后的所述反馈信号和/或反射信号的平均值。