[发明专利]无线电干扰测量装置的整体校准方法无效

专利信息
申请号: 201110268910.4 申请日: 2011-09-13
公开(公告)号: CN102419428A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 张泽平;李妮;张广洲;路遥 申请(专利权)人: 国网电力科学研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 潘杰
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 无线电 干扰 测量 装置 整体 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种无线电干扰测量装置的整体校准方法,其方法是:首先从无线电计量基标准溯源,通过分体校准并结合标准接收天线和标准无线电干扰接收机的不确定度,确定无线电场强仪的测量不确定度,建立无线电干扰测量装置的标准装置,进而通过比较法或替代法进行整体校准,

其具体步骤是:

第一步骤:无线电干扰测量装置的量值从无线电计量基标准溯源,把作为实验室标准保存的天线,包括测量长波和中波的环状天线和杆状天线,测量短波的杆状天线、对称振子天线和测量超短波的偶极子天线送无线电标准实验室检定,确定天线的传输系数和阻抗;

第二步骤:同时把作为实验室标准保存的接收机、频谱分析仪、标准信号发生器、标准衰减器、数字电压表送无线电标准实验室检定,确定这些标准仪器的刻度因数和测量准确度;

第三步骤:通过分体校准并结合标准接收天线和标准无线电干扰接收机的不确定度,确定无线电场强仪的测量不确定度,在此基础上建立无线电干扰测量装置的标准装置;

第四步骤:通过比较法或替代法,把标准射频场强测量装置的接收天线和被校无线电干扰测量系统的接收天线置入校准用射频电磁场,比较它们的测量示值后得到被校干扰仪的测量误差,从而完成对天线及无线电干扰接收机组成的无线电干扰测量装置的整体校准。

2.如权利要求1所述的无线电干扰测量装置的整体校准方法,其特征在于:所述第四步骤中

远区场无线电干扰测量仪的150kHz~30MHz频段使用在全电波暗室中的磁场线圈产生的磁场和杆状天线产生的电场校准;比较法使用类型相同的天线,即发射源天线、标准场强仪与被校干扰仪使用的天线同为环状天线或杆状天线;标准场强仪的误差经过计量学方法通过天线与接收机的误差综合得到并经过整体校准;

远区场无线电干扰测量仪的30MHz~300MHz频段的校准方法也是通过与标准场强仪的比较得到被校干扰仪的误差;校准工作可在全电波暗室按5米法进行,用双锥天线产生电磁波;无线电干扰测量系统的接收天线可以是环状、杆状或对称振子天线;

远区场无线电干扰场强仪的校准,先对天线和接收机组成的装置按远区场测量仪进行整体校准,然后对接收机部分进行频率响应和时间常数试验;校准时使用脉冲响应校准器,用以测量接收机的干扰脉冲响应。

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