[发明专利]探针卡

说明书

技术领域

本发明是有关于一种探针卡，且特别是有关于一种用于测试卷带式芯片封装的探针卡。

背景技术

随着半导体技术的改良，使得液晶显示器具有低的消耗电功率、薄型量轻、分辨率高、色彩饱和度高、寿命长等优点，因而广泛地应用在笔记型计算机或桌上型计算机的液晶屏幕及液晶电视等与生活息息相关的电子产品。其中，显示器的驱动芯片(integrated circuit，IC)更是液晶显示器不可或缺的重要组件。

因应液晶显示装置驱动芯片各种应用的需求，一般是采用卷带式封装技术进行芯片封装，其中包括有薄膜覆晶(Chip On Film，COF)封装、卷带承载封装(Tape Carrier Package，TCP)等。卷带式封装将半导体芯片电性连接于表面形成有配线构造的可挠性薄膜基材上，其中配线构造包含输入端引脚及输出端引脚，这些引脚的内端电性连接芯片的电性端点(例如：凸块)，其外端向外延伸并形成有测试垫，以供电性测试之用。

目前对于卷带式封装的测试多使用悬臂式探针卡。图1A是现有悬臂式探针卡的示意图。图1B是图1A中A部分的放大示意图。请同时参考图1A与图1B，探针卡10包括多个悬臂探针11，用于测试的卷带式封装20位在悬臂探针11之下，且悬臂探针11与卷带式封装20的测试垫21接触，以藉此测试卷带式封装20。在此，悬臂探针11斜向延伸并以一环状固定座12排列固定住，使悬臂探针11的尖端向中央集中并位于一共平面。环状固定座12设置于一电路板P上，且所述多个悬臂探针11的一端电性连接至该电路板P。环状固定座12及电路板P皆具有一窗口，可供观测悬臂探针11的尖端及测试垫21的位置。透过该窗口进行对位作业后，悬臂探针11的尖端即可正确探触卷带式封装20的测试垫21。然而，悬臂探针11为人工摆针方式设置，其尖端无法密集排列，实难以因应测试垫21间距(pitch)日益缩小的趋势，再者，悬臂探针11为斜向延伸设置，在实际操作时易产生探针随悬臂弯曲变形，也会发生横向位移(滑针)，因而容易造成探触不稳定。

为改善悬臂式探针卡的限制，因此有垂直式探针卡的设计。垂直式探针卡将多排探针垂直与密集地固设于探针卡的一探针头，以匹配高密度(fine pitch)的电路测试。垂直式探针卡虽能解决上述悬臂式探针卡的缺点，然而其探针头并无设置窗口，视觉遮蔽下无法以CCD摄影机观测到垂直探针的探触位置，因此无法准确对位。因此，如何改善上述探针卡的相关缺点，便值得相关人员予以进一步探究。

发明内容

本发明提供一种探针卡，其具有较佳的稳定度与较容易的制作工艺。

本发明的一实施例提出一种探针卡，适于与一卷带封装组件的多个测试垫接触。探针卡包括一电路板、一探针固定座以及多个片状探针。探针固定座配置于电路板上。探针固定座具有一透光窗口以及多个探针组装槽。透光窗口未被电路板遮蔽，且探针组装槽相邻排列于透光窗口的至少二相对侧之外。各片状探针分别组装于其中一探针组装槽内，且至少部分片状探针延伸至透光窗口上方。各片状探针包括一组装部、一垂直探测部与一水平延伸部。组装部具有一水平底座及一弧形支撑。水平底座设置于对应的探针组装槽内，弧形支撑连接于水平底座邻近透光窗口的一端上。垂直探测部适于与测试垫接触。水平延伸部连接弧形支撑并向透光窗口方向延伸而与垂直探测部连接。

在本发明的一实施例中，上述的探针组装槽的延伸方向垂直透光窗口的二相对侧，且各探针组装槽的长度大于各水平底座的长度。

在本发明的一实施例中，上述的片状探针区分为多个群组，每一群组中的片状探针的水平底座错位设置于对应的探针组装槽内，以使相应的垂直探测部的尖端适位于同一平面上并排列于至少二列上，且此至少二列平行透光窗口的二相对侧。

在本发明的一实施例中，上述的群组分别沿透光窗口的二相对侧重复设置。

在本发明的一实施例中，上述的各群组包含至少一第一片状探针及一第二片状探针。第一片状探针及第二片状探针的垂直探测部位于透光窗口上方并且分别排列于第一列及第二列，其中第二列较第一列远离透光窗口的中心。

在本发明的一实施例中，上述的各水平延伸部具有至少一槽孔，以增加各片状探针的弹性。

在本发明的一实施例中，更包括一强化板，配置于电路板上。探针固定座与强化板分别配置于电路板的二相对表面上。

在本发明的一实施例中，上述的强化板未遮蔽透光窗口。

在本发明的一实施例中，上述的各片状探针的厚度介于0.015毫米与0.027毫米之间。