[发明专利]电子元器件高速测试分选设备无效
申请号: | 201110272643.8 | 申请日: | 2011-09-14 |
公开(公告)号: | CN102357473A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 林琳;缪来虎;卓维煌;李靖鹏;聂晶;曾庆略 | 申请(专利权)人: | 深圳市华腾半导体设备有限公司 |
主分类号: | B07C5/36 | 分类号: | B07C5/36;G01R31/00;G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元器件 高速 测试 分选 设备 | ||
1.一种电子元器件高速测试分选设备,其包括:
接受电子元器件的吸嘴和转盘,转盘采用卧式布局,其轴线与水平 方向平行,吸嘴垂直分布于转盘边缘,吸嘴的轴向方向与转盘的轴向 方向相垂直;
测试基座,用于放置测试用的探针机构,在其上测定出元器件所吸 收的波长和光强,并对电子器件的电子特性进行测定。
2.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备,其中所述分选设 备还包括驱动转盘转动的转盘驱动电机。
3.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备,其中所述分选设 备还包括分料延长软管,其位于所述测试基板的下部,软管的另一端连接 至收料筒。
4.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备,其中所述吸嘴呈 放射式径向均匀分布于转盘边缘。
5.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备,其中所述驱动电 机为伺服电机或者步进电机。
6.权利要求1所述电子元器件高速测试分选设备,其测试用的探针 机构也可以放置于水平放置的基板上。
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