[发明专利]测距装置、透镜系统以及摄影装置

说明书

技术领域

本发明涉及能够安装于具有自动焦点调节功能的摄影装置中的测距装置、具备该测距装置的透镜系统以及摄影装置。

背景技术

在摄影装置的自动焦点调节中进行的步骤大致分类为焦点检测步骤和焦点调节步骤这二个步骤。在焦点检测步骤中，为了得到高精度的被摄影体信息，有时使用从摄影装置中独立出来的测距装置。该测距装置有的为了进行焦点检测而利用三角测距的原理。在三角测距的原理中，有利用对象物所发出的光进行焦点检测的无源型、和通过检测从装置侧向对象物投射的光的反射而进行测距的有源型。另一方面，在焦点调节步骤中，根据上述焦点检测的结果进行光学系统的聚焦。这样，在摄影装置的自动焦点调节中，为了高精度地检测被摄影体信息，需要与摄影系统分开设置测距系统。因此，在摄影装置中，由于与摄影系统分开搭载测距系统，从而产生了摄影装置整体大型化等状况。

以往，针对这样的状况提出有如下方案：将测距传感器和测光传感器配置在同一基板上，并且，将独立地设置的多个测距透镜和测光透镜一体形成的测距/测光装置(例如，参照日本特开2004-12863号公报)。另外，将包含测距透镜的测距光学系统作为成像系统，将包含测光透镜的测光光学系统作为非成像系统。根据该测距/测光装置，即使将测距光学系统和测光光学系统构成为一个装置，也能够进行高精度的测距、测光，并且能够实现小型化、低成本化。

在上述以往技术中，通过提供如下所述的测距装置(或者测光装置)而实现了小型化，该测距装置(或者测光装置)缓和了由于测距透镜和测光透镜成为一体构造而产生的光学性的限制、测光透镜的必要视场角对测距透镜的限制。另外，通过缓和与上述小型化相伴的限制，测距/测光的精度也得以实现。不过，测距装置的精度必须与搭载该测距装置的摄影装置的变焦镜头侧所要求的聚焦精度对应。但是，在基于上述以往技术的测距装置中，不容易满足与该变焦镜头侧所要求的聚焦精度对应的测距规格。

发明内容

本发明就是鉴于这样的状况而提出的，提供一种满足与摄影装置的变焦镜头侧所要求的聚焦精度对应的测距规格的测距装置。

本发明提供一种测距装置，根据三角测距的原理测定到达由摄影装置拍摄的被摄影体的距离，其特征在于：

具有测定单元，该测定单元将到上述被摄影体的距离的能够测距的最远距离设为不小于上述摄影装置的超焦距的最大值的1/2。

根据该结构，能够通过上述测距装置得到能在摄影装置的整个变焦区域中聚焦的测距精度。

另外，上述测定单元具有一对透镜和一对传感器，该一对传感器通过上述一对透镜分别形成上述被摄影体的像，

在设上述摄影装置的超焦距的最大值为H、上述一对透镜的焦距为fs、由上述一对透镜的光轴间的距离确定的基线长度为ls、上述传感器的位移量的最小分辨率为ds时，优选满足下式的条件。

[数式1]

0.06≤(H·ds)/(2·ls·fs)≤2.5...(1)

其中，H＝fit²/(δ·Fnot)

fit：摄影装置的最大焦距

δ：摄影装置的散光圈(circle of confusion)

Font：摄影装置的fit中的F值

根据本发明，因为能够得到满足在具有自动焦点调节功能的摄影装置的整个变焦区域中要求的测距精度的测距装置，所以通过本发明的测距装置起到能够提高摄影装置的聚焦精度的效果。

本发明的进一步的特征能够通过参照附图并结合以下典型的实施方式而加以明确。

附图说明

图1是无源型测距装置的概念图。

图2A和图2B是表示在和摄影装置的关系中要求的无源型测距装置的测距精度的条件的概念图。

图3A和图3B是表示本发明的无源型测距装置的测距精度的概念图。

图4是本发明的测距装置的实施例1的透镜的结构。

图5是正交于图4的透镜基线长度的方向的各像差。

图6是图4的透镜基线长度方向的各像差。

图7是本发明的测距装置的实施例2的透镜的结构。

图8是正交于图7的透镜基线长度的方向的各像差。

图9是图7的透镜基线长度方向的各像差。

图10是本发明的测距装置的实施例3的透镜的结构。

图11是正交于图10的透镜基线长度的方向的各像差。

图12是图10的透镜基线长度方向的各像差。

具体实施方式