[发明专利]晃动测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试技术，尤其涉及一种适用于电脑系统的扩充槽的晃动测试装置。

背景技术

现行的电脑主机架构，除了包括有中央处理单元(central process unit；CPU)、桥接晶片组(bridge chipset)、存储器(Memory)及显示单元(Display unit)以外，可让使用者进行电脑机能扩充的扩充槽(Expansion slot)亦是相当主要的一个部分。使用者可以利用电脑主机上的扩充槽以与周边装置(例如，显示卡、音讯处理卡...等外接式插卡)进行沟通，藉以扩充电脑的机能，并增加电脑主机的应用。

此外，使用者除了希望电脑能在一静止状态中能够顺利使用以外，也会希望电脑主机能够随身携带以随时使用。藉此，各大厂商必须不断地测试电脑主机在晃动过程中的稳定度，以检验电脑主机在模拟移动的情况下是否能正常运作。

由于外接式插卡的种类多样，并且每个外接式插卡的零件个数、重量以及支撑结构的设计皆不相同，因此在进行振动测试时，厂商难以利用实际的外接式插卡进行测试。若以上述方式进行测试，也必需具备众多式样的外接式插卡，才能进行较为全面的完整测试。

然而，以实际的外接式插卡进行测试的成本过高，上述测试方式也无法侦测到其金手指与扩充槽的实际跳脱情形。因此，当检验电脑主机在晃动过程的稳定度时，必须另外研发新颖的测试技术，以解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种晃动测试装置，以侦测电脑主机当中的连结插件(例如扩充槽与晃动测试装置的金手指部分)是否会因晃动而脱落，或是发生晃动测试装置跳脱、但又插回插槽却未发现等情形。

本发明提出一种晃动测试装置，适用于一电脑系统的一扩充槽。晃动测试装置包括一主板、一结构单元及一侦测模组。其中主板具有一金手指以电性连接至扩充槽。结构单元配置于主板，用以模拟一重量以及一支撑结构。侦测模组耦接至金手指的至少一脚位，用以侦测金手指与扩充槽之间的一接触状态以产生一警示信息。

在本发明的一实施例中，上述的结构单元包括至少一砝码及至少一支架。此至少一砝码用以以模拟晃动测试装置的重量，并且此少一支架用以模拟种晃动测试装置的支撑结构以及种晃动测试装置的一主板高度。

在本发明的一实施例中，上述的侦测模组包括一接触侦测单元、一闩锁单元及一警示单元。接触侦测单元耦接至至少一脚位，用以当至少一脚位脱离扩充槽时，致能一接触状态信号。闩锁单元耦接至侦测单元，用以接收接触状态信号，并在接触状态信号致能时，致能并维持一闩锁警示信号。警示单元耦接至接触侦测单元以及闩锁单元，用以当接触状态信号或闩锁警示信号致能时，产生警示信息。

在本发明的一实施例中，上述的金手指的至少一脚位用以耦接至扩充槽的至少一接地脚位。其中接触侦测单元包括一第一或门以及至少一上拉电阻。第一或门其每一输入端分别耦接至金手指的至少一脚位，且第一或门的输出端产生接触状态信号。每一上拉电阻的第一端耦接至一电源端，且每一上拉电阻的第二端分别耦接至至少一脚位。

在本发明的一实施例中，上述的闩锁单元包括一D型触发器。D型触发器的数据输入端耦接至一电源端，D型触发器的时脉输入端接收接触状态信号，且D型触发器的数据输出端产生闩锁警示信号。

在本发明的一实施例中，上述的警示单元包括一第一非门、一第二非门、一第一二极管、一第二二极管、一第一电阻以及一第一发光二极管。第一非门其输入端接收接触状态信号，并且第二非门其输入端接收闩锁警示信号。第一二极管其阴极端耦接至第一非门的输出端，并且第二二极管其阴极端耦接至第二非门的输出端。第一电阻其第一端耦接至第一二极管以及第二二极管的阴极端。第一发光二极管其阴极端耦接至第一电阻的第二端，且第一发光二极管的阳极端耦接至电源端。

在本发明的一实施例中，上述的警示单元还包括一接触显示单元。接触显示单元耦接至第一非门及闩锁单元的一反相数据输出端，用以在接触状态信号或闩锁警示信号禁能时，发出一接触信息。

在本发明的一实施例中，上述的接触显示单元包括一第二或门、一第三二极管、一第二电阻及一第二发光二极管。第二或门的第一输入端以及第二输入端分别耦接至第一非门的输出端以及反相数据输出端，以产生一接触显示信号。第三非门用以反相接触显示信号，第三二极管其阴极端耦接至第三非门的输出端，第二电阻其第一端耦接至第三二极管的阴极端，并且第二发光二极管其阴极端耦接至第二电阻的第二端，且第二发光二极管的阳极端耦接至电源端。