[发明专利]一种提高n型氧化亚铜薄膜载流子浓度的热处理方法无效
申请号: | 201110281222.1 | 申请日: | 2011-09-21 |
公开(公告)号: | CN102321901A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 王龙成;曾红春;杨静静;金达莱;席珍强 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | C25D9/04 | 分类号: | C25D9/04;C25D5/50 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林怀禹 |
地址: | 310018 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 氧化亚铜 薄膜 载流子 浓度 热处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种提高n型氧化亚铜薄膜载流子浓度的热处理方法。
背景技术
氧化亚铜(Cu2O)是一种非常重要的氧化物半导体材料,其禁带宽度为2.1 eV,可以被波长为400~800 nm的可见光激发,而且制备成本低、理论利用效率较高,在太阳能电池、催化剂、燃料电池、气敏传感器和超导材料等领域都有着重要的应用。氧化亚铜薄膜太阳能电池自七十年代以来就成为研究热点,但是,因为无法制备n型氧化亚铜薄膜,使得氧化亚铜薄膜太阳能电池的发展受到很大限制。近年来,利用电化学沉积法已可以制备n型氧化亚铜薄膜,为氧化亚铜薄膜太阳电池的发展解决了瓶颈问题。目前,对n型氧化亚铜薄膜的相关研究非常少,主要集中在制备方面,性能测试和优化等方面缺少相应的科研成果。随着氧化亚铜薄膜电池在科研与生产领域得到越来越多的重视,n型氧化亚铜薄膜的力学、电学、热学、磁学、光学等性能的相关研究也越来越重要。因此,研究热处理对n型氧化亚铜薄膜电学性能的影响,对于研究氧化亚铜薄膜电池具有重要的理论与实践意义。
热处理法是改善晶体质量并改善晶体性能的重要方法。热处理法是一种材料处理常用的方法,具有简便易行,低成本,能有效改变晶体质量及晶体结构,并改善晶体性能等优点。
发明内容
本发明的目的在于一种提高n型氧化亚铜薄膜载流子浓度的热处理方法,通过先除碳后热处理的方法,实现了对n型氧化亚铜薄膜的热处理,测试结果表明,经过热处理后,n型氧化亚铜薄膜的载流子浓度得到了提高。
本发明采用的技术方案的步骤如下:
1) 将电化学沉积制备所得的n型氧化亚铜薄膜放入热处理炉中进行除碳;
2) 将热处理炉温度升高至120 oC至150 oC,保温1~2小时;
3) 除碳过程后,将热处理炉温度升至300 oC至400 oC,保温1~2小时;
4) 热处理后,热处理炉温度自然降温至常温,将n型氧化亚铜薄膜取出并进行测试。
在热处理前,首先对n型氧化亚铜薄膜进行除碳,即除去沉积过程中在氧化亚铜薄膜上残留的有机杂质;然后对氧化亚铜薄膜进行热处理,通过控制热处理温度与时间,提高n型氧化亚铜薄膜载流子浓度。
本发明具有的有益效果是:
本发明提出对电化学沉积的n型氧化亚铜薄膜进行先除碳,再热处理的方法。通过除碳过程,可以去除在沉积过程中n型氧化亚铜薄膜中的有机杂质,有效提高n型氧化亚铜薄膜的载流子浓度。
附图说明
图1是氧化铟锡玻璃衬底上n型氧化亚铜薄膜结构示意图;
图2是实施例1所得n型氧化亚铜薄膜的XRD图谱;
图3是实施例1所得n型氧化亚铜薄膜的扫描电镜照片;
图4是实施例1所得n型氧化亚铜薄膜的电容-电压曲线;
图5是实施例2所得n型氧化亚铜薄膜的电容-电压曲线。
具体实施方式
如图1所示,本发明在氧化铟锡玻璃衬底2上沉积一层n型氧化亚铜薄膜1。
实施例1:
将0.2克硫酸铜(CuSO4·5H2O)与10毫升浓度为60%的乳酸钠(C3H5NaO3)溶于去离子水中,搅拌5分钟后,配成体积为20.0毫升的溶液,硫酸铜浓度为0.4摩尔/升,乳酸钠摩尔浓度为3.0摩尔/升,利用4.0摩尔/升的氢氧化钠调节溶液的pH值为6.5。
通过恒温水浴控制溶液温度在60 oC。利用三电极电化学池进行n型氧化亚铜薄膜的沉积。工作电极为氧化铟锡玻璃衬底,对电极为铂金电极,参比电极为Ag/AgCl/饱和KCl电极。将三电极插入溶液,调节电压在-0.3 V (vs Ag/AgCl/饱和KCl电极电极),沉积时间为60分钟。将沉积好的n型氧化亚铜薄膜,用去离子水清洗,并干燥。
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