[发明专利]一种DCS系统中设备的CPU负荷测试方法有效
申请号: | 201110282149.X | 申请日: | 2011-09-21 |
公开(公告)号: | CN102354295A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 董明;郄永学;姜博;王振春;马吉强;朱毅明;李相建;刘元;刘伟;胡劲松;梁中起;古丹;何文广;朱剑;汪绩宁;周爱平;刘杰;王钊;刘汪平;高连国;支源 | 申请(专利权)人: | 北京广利核系统工程有限公司;中国广东核电集团有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 北京元中知识产权代理有限责任公司 11223 | 代理人: | 王明霞 |
地址: | 100094 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 dcs 系统 设备 cpu 负荷 测试 方法 | ||
1.一种DCS系统中设备的CPU负荷测试方法,包括如下步骤,
步骤1、测量被测系统的波形;
步骤2、以一个周期为单位获取一定数量的波形数据;
步骤3、从各波形周期中选出最大时间值;
步骤4、用最大时间值除以被测系统的CPU固有周期得到被测系统的CPU负荷大小,再乘以100%来确定是否满足设定的百分比要求;
其特征在于,所述步骤3中确定每个波形周期的时间值方法如下:
步骤31、获取当前波形周期的高电平电压值V;
步骤32、分别在每个波型周期的上升波形电压值中,查找两个连续且将电压值V包含在内的电压值UPa、UPb且UPa<V≤UPb,以UPb作为上升沿跳变点并获取其坐标点的时间UTb;
步骤33、分别在每个波形周期的下降波形电压值中,查找两个连续且将电压值V包含在内的电压值DOWNa、DOWNb且DOWNa>V≥DOWNb,以DOWNa作为下降沿跳变点并确定其坐标点的时间DTa;
步骤44、利用DTa-UTb=CTn;其中CTn即为此波形周期的CPU运算时间。
2.如权利要求1所述的CPU负荷测试方法,其特征在于,所述步骤1中被测设备的的波形周期利用示波器得到。
3.如权利要求1所述的CPU负荷测试方法,其特征在于,所述步骤31中的电压值V等于实测值减去噪声值,其中实测值通过直接测量使用电源得到。
4.如权利要求3所述的CPU负荷测试方法,其特征在于,所述噪声值等于使用电源的标称噪声值加上负载所产生的噪声值。
5.如权利要求4所述的CPU负荷测试方法,其特征在于,所述电源标称噪声值为50MV,负载所产生的噪声值为电源标称噪声值的10倍,即V=实测值-50*10。
6.如权利要求1所述的CPU负荷测试方法,其特征在于,所述步骤2获取的波形周期数据为100个。
定周期是否是定长CPU周期,不知是不是这种固定周期的频率,表明按同一规格运行,而不定周期更能根据实现情况调整周期,以相关设备而言,这样更具有配合关系。
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