[发明专利]相位比较器和时钟数据恢复电路无效

专利信息
申请号: 201110286630.6 申请日: 2011-09-23
公开(公告)号: CN102447474A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 菊池秀和;诸桥英雄 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H03L7/087 分类号: H03L7/087;H03L7/097
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 郭定辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 相位 比较 时钟 数据 恢复 电路
【权利要求书】:

1.一种相位比较器,包括:

第一闩锁器,配置为与眼中心时钟信号同步地闩锁输入数据;

第二闩锁器,配置为与具有与所述眼中心时钟信号的相位相反的相位的眼边缘时钟信号同步地闩锁在所述第一闩锁器内闩锁的所述数据;

第一检测电路,配置为检测所述输入数据和所述第一闩锁器内闩锁的所述数据的逻辑失配;

第二检测电路,配置为检测所述第一闩锁器内闩锁的所述数据和所述第二闩锁器内闩锁的所述数据的逻辑失配;以及

电荷泵电路,具有转换开关的功能,配置为基于所述第一和第二检测电路产生的逻辑失配检测结果,将所述电荷泵电路产生的电流从充电电流转换为放电电流和从放电电流转换为充电电流,其中

所述第一检测电路、所述第二检测电路和所述电荷泵电路形成为失配检测器/电荷泵复合电路,该失配检测器/电荷泵复合电路是包括所述第一和第二检测电路的逻辑失配确定部分和所述转换开关的复合电路,该转换开关配置为将所述电流从所述电荷泵电路的所述充电电流改变为所述电荷泵电路的所述放电电流和从所述电荷泵电路的所述放电电流改变为所述电荷泵电路的所述充电电流。

2.根据权利要求1所述的相位比较器,其中:

所述逻辑失配确定部分包括差分输入;以及

所述第一和第二闩锁器形成为具有相同相位的差分输出的触发电路。

3.根据权利要求1所述的相位比较器,其中:

所述失配检测器/电荷泵复合电路包括:

输出节点,

第一复合部分和在电源与所述输出节点之间串联连接到所述第一复合部分的第一电流源,以及

第二复合部分和在所述输出节点与基准电位线之间串联连接到所述第二复合部分的第二电流源,

所述第一复合部分具有第一至第四第一导电类型晶体管,

在所述第一复合部分中,

所述第一第一导电类型晶体管的源极通过布线到所述电源的第一连接点连接到所述第二第一导电类型晶体管的源极,

所述第三第一导电类型晶体管的源极通过布线到所述输出节点的第二连接点连接到所述第四第一导电类型晶体管的源极,

所述第一第一导电类型晶体管的漏极连接到所述第三第一导电类型晶体管的漏极,

所述第二第一导电类型晶体管的漏极连接到所述第四第一导电类型晶体管的漏极,

所述第一第一导电类型晶体管的栅极接收所述输入数据,

所述第二第一导电类型晶体管的栅极接收相位与所述输入数据的相位相反的数据,

所述第三第一导电类型晶体管的栅极接收相位与所述第一闩锁器内闩锁的数据的相位相反的数据,以及

所述第四第一导电类型晶体管的栅极接收所述第一闩锁器内闩锁的所述数据,

所述第二复合部分具有第一至第四第二导电类型晶体管,并且

在所述第二复合部分中,

所述第一第二导电类型晶体管的源极通过布线到所述基准电位线的第三连接点连接到所述第二第二导电类型晶体管的源极,

所述第三第二导电类型晶体管的源极通过布线到所述输出节点的第四连接点连接到所述第四第二导电类型晶体管的源极,

所述第一第二导电类型晶体管的漏极连接到所述第三第二导电类型晶体管的漏极,

所述第二第二导电类型晶体管的漏极连接到所述第四第二导电类型晶体管的漏极,

所述第一第二导电类型晶体管的栅极接收所述第二闩锁器内闩锁的数据,

所述第二第二导电类型晶体管的栅极接收相位与所述第二闩锁器内闩锁的所述数据的相位相反的数据,

所述第三第二导电类型晶体管的栅极接收相位与所述第一闩锁器内闩锁的所述数据的相位相反的数据,以及

所述第四第二导电类型晶体管的栅极接收所述第一闩锁器内闩锁的所述数据。

4.根据权利要求1所述的相位比较器,其中所述第一和第二闩锁器分别与全速时钟信号同步地闩锁数据。

5.根据权利要求1所述的相位比较器,其中所述第一和第二闩锁器分别与半速时钟信号同步地闩锁数据。

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