[发明专利]一种用于离子中性化的网板结构有效
申请号: | 201110289007.6 | 申请日: | 2011-09-26 |
公开(公告)号: | CN102332385A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 席峰;李勇滔;李楠;张庆钊;夏洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01J37/02;C23F4/00 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 离子 中性 板结 | ||
1.一种用于离子中性化的网板结构,所述网板结构包括上网板和中性化网板,其特征在于,所述中性化网板上设置有多个网孔,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式不同。
2.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上表面为凸状弧形,下表面为水平,中间厚,边缘薄。
3.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上表面为凹状弧形,下表面为水平,中间薄,边缘厚。
4.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上下表面均为凸状弧形,中间厚,边缘薄。
5.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上下表面为凹状弧形,中间薄,边缘厚。
6.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上表面为波浪状,下表面为凸状弧形。
7.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上表面为波浪状,下表面为水平。
8.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板横截面的上下表面不同区域的厚度分布形式为:所述中性化网板横截面上表面为波浪状,下表面为凹状弧形。
9.如权利要求1所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板的厚度为0.1~500mm;所述中性化网板由低溅射导电材料制成;所述网孔为圆柱形网孔,所述圆柱形网孔的直径为0.1~50mm;所述网孔的间距为0-10mm;所述上网板和中性化网板的电阻率为0.5μΩm~100μΩm,抗折强度为10Mpa~200Mpa,表面光洁度为Ra0.2~Ra 6.3μm。
10.如权利要求9所述的用于离子中性化的网板结构,其特征在于,所述中性化网板的厚度为0.1-500mm;所述低溅射导电材料为石墨、碳纤维、碳化硅或钼;所述圆柱形网孔的直径为0.1-3mm;所述网孔的间距为0.1-5mm。
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