[发明专利]用于确定和校正半导体阵列检测器的响应的稳定性的方法有效

专利信息
申请号: 201110289454.1 申请日: 2011-09-27
公开(公告)号: CN102419450A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: F·格拉瑟;L·韦尔热 申请(专利权)人: 原子能和能源替代品委员会
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;孙向民
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 校正 半导体 阵列 检测器 响应 稳定性 方法
【权利要求书】:

1.一种控制由像素(P)构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,所述方法包括描述所述稳定性的特征的至少一个第一阶段和校正所述稳定性的至少一个第二阶段,其特征在于:

所述第一阶段包括以下步骤:

-用随时间保持恒定的标准辐射照射检测器的像素一段预定持续时间;

-存储在所述预定持续时间内以规则时间间隔由每个像素输送的信号(S);

-对于每个像素确定由每个像素输送的信号的幅值分布;

-通过代表所述分布的离散度的至少一个统计指标来描述每个分布的特征;

-基于该指标将每个像素分为至少两类像素,每类代表像素的时间响应的稳定性,属于第一类的像素表示为“稳定像素”,属于第二类的像素表示为“不稳定像素”,

所述第二阶段包括以下步骤:

-根据预定准则将每个不稳定像素与至少一个稳定像素相关联;

-用待描述特征的辐射照射检测器的像素一段第二预定持续时间;

-存储对于在所述第二预定持续时间内取得的至少一个时间间隔由每个像素输送的信号;

-根据由与所述不稳定像素关联的稳定像素所产生的信号或多个信号,对由每个不稳定像素产生的信号或多个信号进行校正。

2.根据权利要求1所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,每个像素n的幅值分布是以平均值μn为中心的直方图Dn,所述统计指标为标准偏差sn

3.根据权利要求2所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,将像素分为一类像素是根据比率值snn是否小于预定阈值而进行的。

4.根据权利要求2所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,所述阵列分解为包括预定数量像素的基本网格单元,所述网格单元的像素具有属于第一类像素的比率snn的最小值,所述网格单元的其它像素属于第二类像素。

5.根据权利要求1所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,所述预定准则是所述不稳定像素与最接近的稳定像素分离的最小距离。

6.根据权利要求1或4所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,所述预定准则是同一个网格单元中的成员数量。

7.根据权利要求1、5和6的其中一项所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,对由每个不稳定像素产生的信号的校正通过以下方式实现:将所述不稳定像素的所述信号乘以与由稳定像素输送的信号成比例的常系数,所述不稳定像素与所述稳定像素相关联。

8.根据权利要求1、5和6的其中一项所述的控制由像素构成的半导体阵列成像器的响应的稳定性的方法,其特征在于,对在给定时间间隔期间由每个不稳定像素产生的信号的校正通过以下方式实现:将所述不稳定像素的所述信号乘以与由稳定像素输送的信号的平均值成比例的系数,在相同时间间隔期间所述不稳定像素与所述稳定像素相关联。

9.一种阵列成像器,包括由像素构成的半导体有源检测表面,包括用于存储和处理从有源表面的像素产生的信号的装置,其特征在于,所述像素分布在至少两类中,第一类包括所谓的稳定像素,第二类包括所谓的不稳定像素,每个不稳定像素根据预先确定的准则关联至稳定像素,从每个不稳定像素产生的信号根据与所述不稳定像素相关联的稳定像素的信号而以至少一个校正系数进行传输。

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