[发明专利]覆膜机及覆膜方法

权利要求书

1.一种覆膜机，包含：

一覆膜平台，用来承载至少一基板以供覆膜；及

一光学检测器，用来检测覆膜前后该覆膜平台上的该基板的品质。

2.如权利要求1所述的覆膜机，其特征在于，所述的光学检测器包含复数个光学耦合组件。

3.如权利要求1所述的覆膜机，其特征在于，所述的覆膜平台进一步包含：

一旋转机构；及

复数个承载治具，设置于该旋转机构上，分别用来承载该基板。

4.如权利要求3所述的覆膜机，其特征在于，进一步包含：

一载膜平台；

一卷膜机构，装载一贴有贴膜的胶带，并且输送该贴有贴膜的胶带至该载膜平台；

一吸膜治具，用来吸附并剥离该载膜平台上的贴膜，并将该贴膜贴合于该承载治具上的基板；

一定位传感器，侦测该吸膜治具所吸附的贴膜的位置；以及

一可程序逻辑控制器，控制该覆膜平台、该卷膜机构及该吸膜治具的运作，并且进一步根据该定位传感器的侦测结果来控制该吸膜治具进行一定位程序，以及根据该光学检测器的检测结果来产生一提示讯息。

5.如权利要求4所述的覆膜机，其特征在于，所述的卷膜机构包含：

一出膜料盘，装载并卷动出该贴有贴膜的胶带；

至少一滚筒，设置于该出膜料盘下游，用来支撑及输送该贴有贴膜的胶带；以及

一回收料盘，卷动回收该已剥离贴膜的胶带。

6.如权利要求1所述的覆膜机，其特征在于，进一步包含：

一卷膜机构，用来输送及承载一贴有贴膜的胶带；

一滚轮压头装置，用来剥离该卷膜机构上的贴膜，以将该贴膜滚压贴合至该基板；

一标头系统，控制该卷膜机构及该滚轮压头装置的移动；

一定位传感器，侦测该卷膜机构上的该贴有贴膜的胶带的位置；以及

一可程序逻辑控制器，控制该覆膜平台及该标头系统的运作，并且进一步根据该定位传感器的侦测结果来控制该标头系统进行一定位程序，以及根据该光学检测器的检测结果来产生一提示讯息。

7.如权利要求6所述的覆膜机，其特征在于，所述的卷膜机构包含：

一出膜料盘，装载并卷动出该贴有贴膜的胶带；

至少一滚筒，设置于该出膜料盘下游，用来输送及承载该贴有贴膜的胶带；以及

一回收料盘，卷动回收该已剥离贴膜的胶带。

8.一种覆膜方法，其特征在于，步骤包括：

执行一入料程序；及

在对一基板进行覆膜之前与后，透过一光学检测器自动检测该基板的品质。

9.如权利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，该执行入料程序的步骤进一步包含：

旋转一覆膜平台，以入料该基板，其中该覆膜平台包含复数个用来承载该基板的承载治具；及

卷动一卷膜机构，以入料一贴有贴膜的胶带。

10.如权利要求9所述的覆膜方法，其特征在于，在执行该入料基板的步骤后，进一步透过该光学检测器自动检测该基板是否有脏污。

11.如权利要求9所述的覆膜方法，其特征在于，进一步包含：

吸附并剥离该贴膜；

定位该所吸附的贴膜的位置；及

贴覆该贴膜于该基板。

12.如权利要求11所述的覆膜方法，其特征在于，在贴合该贴膜于该基板之后，进一步透过该光学检测器自动检测该已覆膜的基板是否有气泡。

13.如权利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，所述的执行入料程序的步骤进一步包含：

移动一覆膜平台，以入料该基板；及

卷动一卷膜机构，以入料一贴有贴膜的胶带。

14.如权利要求13所述的覆膜方法，其特征在于，在执行该入料基板的步骤后，进一步透过该光学检测器自动检测该基板是否有脏污。

15.如权利要求13所述的覆膜方法，其特征在于，进一步包含：

定位该贴有贴膜的胶带入料后的位置；及

剥离并滚压贴合该贴膜于该基板。

16.如权利要求15所述的覆膜方法，其特征在于，在贴合该贴膜于该基板之后，进一步透过该光学检测器自动检测该已覆膜的基板是否有气泡。

17.如权利要求8所述的覆膜方法，其特征在于，进一步包含：根据该光学检测器的检测结果来产生一提示讯息。